Методами рентгеновской дифракции по рефлексам отражения (00l) от основной кристаллографической плоскости проведено сравнение графитов разной природы: пиролитического, синтетического, терморасширенного и природного. Показано, что рефлексы (002) и (004) — это суперпозиция двух компонент, соответствующих структурным фазам графита с различным межплоскостным расстоянием. Соотношение интегральных интенсивностей выделенных компонент рефлексов отражает соотношение этих фаз, что наряду с межплоскостным расстоянием характеризует графиты и позволяет обнаружить разницу между ними. Дальние порядки отражения от основной плоскости обеспечивают получение более точных данных по межплоскостному расстоянию, поэтому для характеристики графитов предлагается использовать рефлекс (004). Показано соответствие структурных особенностей графитов, определенных данным способом, с разрядной емкостью литий-ионных аккумуляторов с анодами из этих графитов.
展开▼
