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高分解能スピン分解光電子分光装置の開発と表面ラシュバ効果の研究

机译:高分辨率自旋分辨光电子能谱仪的研制及表面Rashba效应的研究

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摘要

角度分解光電子分光(ARPES)は,外部光電効果により,固体中の電子のエネルギーと運動量を直接観測できる点から,新機能物質の物性研究に非常に貢献してきた実験手法である。特に1986年の高温超伝導体の発見とその後の爆発的な研究展開に触発されるように,光電子分光のエネルギー分解能は20年ほど前の0.3eVから二桁以上も向上し,現在は1meV以下という超高分解能測定が可能となった。このような装置の高性能化が進んできた一方で,電子のもう一つの重要な自由度である「スピン」を観測する実験は,その検出手法の本質的な難しさにより,あまり活発とは言えない状況であった。これは,従来型の電子スピン検出器の検出効率が悪く,十分な統計精度を得るために分解能を大幅に犠牲にせざるを得ず,微細なスピン構造を議論することが困難であったためである。
机译:角分辨光电子能谱(ARPES)是一种实验方法,它可以通过外部光电效应直接观察固体中电子的能量和动量,因此对新功能物质的物理性质的研究做出了巨大贡献。特别是,受1986年高温超导体的发现以及随后爆炸性研究的启发,光电子能谱的能量分辨率已从20年前的0.3 eV提高了两个数量级以上,现在已达到1 meV。以下超高分辨率测量已成为可能。尽管这种设备的性能有所提高,但由于检测方法固有的困难,观察观察“自旋”的实验不是很活跃,“自旋”是电子的另一个重要自由度。我无法说这种情况。这是因为常规电子自旋检测器的检测效率很差,为了获得足够的统计精度必须显着牺牲分辨率,并且难以讨论精细自旋结构。 ..

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