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【24h】

CMOS回路におけるタイング歩留り最大化のためのゲートサイジング手法の提案

机译:关于在CMOS电路中最大程度提高成品率的栅极定径方法的建议

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摘要

半導体微細加工技術の進歩により,製造ばらつきによるチップの性能歩留り低下が問題となっている.従来から,回路の平均遅延時間を最小にするゲートサイジング手法が用いられていたが,我々は,要求される遅延時間を満たすチップの,チップ総数に対する割合をタイミング歩留りと定義し,タイミング歩留りを最大化するための新たなゲートサイジング手法を提案する.従来手法を用いた場合,.ゲートサイズは常に一定の倍率で大きくなっていくのに対し,提案手法を用いた場合,ターゲット遅延時間?最終段の負荷容量によって,前段に対するゲートサイズの倍率が各段で異なることを確認した.さらに,タイミング歩留りの向上においても有効であることを確認した.
机译:由于半导体微加工技术的进步,存在由于制造偏差而降低芯片性能成品率的问题。常规上,已经使用了使电路的平均延迟时间最小化的门定径方法,但是我们将满足所需延迟时间的芯片与芯片总数之比定义为定时成品率,并使定时成品率最大化。我们提出了一种用于转换的新的门径调整方法。使用常规方法时,。虽然门的尺寸总是以恒定的放大倍数增加,但是当使用所提出的方法时,可以确定的是,前一级的门的尺寸放大倍数随目标延迟时间和最后一级的负载能力而有所不同。此外,已经证实在提高定时产量方面也是有效的。

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