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【24h】

粒子計測に関するISO/TC24/SC4における日本の役割と将来展望

机译:日本在ISO / TC24 / SC4颗粒测量中的作用和未来前景

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摘要

ナノテクノロジー関連の規格の中で、TC24/SC4が取り扱う粒径測定法の規格は中心的な役割を果たすと言えます。 今後、まず、電子顕微鏡を用いた直接法による粒子の形状測定を規格化することにより、少なくとも粒子形状の測定結果への影響を明らかにする必要があると考えています。 その他にも粒度分布の測定結果に影響を与えるパラメータは数多くあり、その一つ一つの影響を明らかにすることによって、始めて粒径測定法が信頼されるものになると言えます。
机译:在与纳米技术有关的标准中,可以说TC24 / SC4处理的粒度测量方法标准起着核心作用。将来,我们认为有必要通过使用电子显微镜的直接方法标准化颗粒的形状测量来至少澄清对颗粒形状的测量结果的影响。还有许多其他参数会影响粒度分布的测量结果,可以说只有通过阐明每种方法的效果,才能相信粒度测量方法。

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