...
首页> 外文期刊>Приборы и техника эксперимента >УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И ИХ РАСПЛАВОВ ПРИ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ
【24h】

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И ИХ РАСПЛАВОВ ПРИ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ

机译:高温下半导体及其熔体热导率的测量装置

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Описана установка для исследования теплопроводности полупроводников и их расплавов в широком температурном интервале (300-1100 К). В отличие от ранее используемых для этих целей устройств, измерение теплопроводности проводили в герметически закрытом автоклаве, заполненном после вакуумирования спектрально чистым аргоном для предотвращения окисления, испарения или разложения исследуемого вещества. Ошибка измерения теплопроводности не превышает 8% при 1000К.
机译:描述了一种用于研究半导体及其熔体在较宽温度范围(300-1100 K)中的热导率的设置。与以前用于这些目的的设备相比,导热率的测量是在抽空后装满光谱纯氩气的密闭高压釜中进行的,以防止测试物质的氧化,蒸发或分解。 1000K时的热导率测量误差不超过8%。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号