Представлен обзор "нетрадиционных" лабораторных ядерно-физических методов определения таких основных параметров полупроводниковых детекторов заряженных частиц, как толщина чувствительного слоя и энергетическое разрешение. Методы измерения толщины чувствительного слоя основаны на особенностях взаимодействия излучения стандартных α-, β-, γ-источников и монохроматических нейтронов с материалом детекторов и предполагают наличие нескольких "реперных" детекторов с известными характеристиками. Применение предлагаемых методов позволяет предварительно оценить работоспособность детекторов перед их использованием в дорогостоящих экспериментах, например, на пучках ускорителей.
展开▼