Установка предназначена для измерения на рабочей длине волны CO{sub}2-лазеров (λ = 10.6 мкм) малых величин коэффициентов поглощения β и рассеяния а оптического излучения в тонких образцах кристаллических материалов, в том числе и в образцах материалов с низкой теплопроводностью. Обычно измерение величин α и β на образцах оптических материалов, имеющих форму тонких дисков, сопровождается значительными погрешностями измерения [1, 2]. Создание установки "Луч", которая обладает широкими функциональными возможностями и обеспечивает высокую чувствительность и стабильность измерений, стало возможным благодаря применению предложенного нами метода измерения коэффициентов поглощения и рассеяния и.к.-излучения в тонких образцах, а также оригинальных технических решений.
展开▼
