マイクロ波走在波伝送線路を用いた高周波材料の非接触PIM特性評価

摘要

本稿では，高周波材料の相互変調ひずみ（PIM:PassiveIntermodulation）特性の評価法として，同軸管を用いた非接触測定法を捷案している.本手法は定在波励振された空心同軸管を利用して被測定試料のPIMを非接触励振するもので，従来必須であった伝送線路とのはんだ付けが不要となり，かつ電気接点による非線形効果を排除した測定も可能となっている.本稿ではまずはじめに同軸管の電力伝送空間を利用する方法について述べ，その場合の効果的な比測定試料の配置法を実験的に検討している．次に，同軸管内導体内部の空間を利用する手法についても提案し，その有効性を実験および電磁界シミュレーションにより確認している．その結果，本提案手法がはんだ付けが困難なTiなどの材料の評価を可能にし，かつ真純など比較的低PIMな導体材料の特性評価も可能な感度を有することを確認することが出来た．