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THERMAL CORRECTION TO RESISTIVITY IN DILUTE Si-MOSFET TWO-DIMENSIONAL SYSTEMS

机译:稀释Si-MOSFET二维系统中电阻的热校正

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摘要

Neglecting electron-electron interactions and quantum interference effects. we calculate the classicla resistivity of a two-dimewnsional electron (hole) gas taking the degeneracy and the thermal correction due to the combined Peltier and Seebeck effects intlo accout. The resistivity is found to be a universal function of the temperature,expressed in the units of (h / e~2)(kF~l)~-1. Analysis of the compressibility and thermopower points ot the thermodynamic nature of the metal-insulator transition in two-dimensional systems.
机译:忽略电子-电子相互作用和量子干涉效应。我们计算了二维电子(空穴)气体的经典电阻率,并结合了珀尔帖和塞贝克效应的积分结果进行了简并和热校正。发现电阻率是温度的通用函数,以(h / e〜2)(kF〜l)〜-1为单位表示。分析二维系统中金属-绝缘体转变的可压缩性和热功率点的热力学性质。

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