Соединение Zr_2Se, характеризующееся высоким содержанием металла, представляет особый интерес для электронной кристаллографии, поскольку оно было одним из первых соединений с тяжелым атомом, структуры которых расшифрованы квазиавтоматическими прямыми методами на основе данных дифракции электронов от выбранного участка 1. Поэтому Zr_2Se выбран в качестве модели при обсуждении возможностей и границ квазикинематического подхода, который с успехом использовался для определения этой структуры, а также родственных структур методами электронной микроскопии высокого разрешения и дифракции электронов от выбранного участка. Для того чтобы оценить точность используемых методов электронной кристаллографии, полученные таким образом данные о структуре сравниваются с результатами структурного анализа методом порошковой рентгенографии и моделью, рассчитанной из так называемых "первых принципов" (в рамках теории функционала плотности). Последняя выбрана в этом исследовании в качестве эталона, поскольку расчеты не зависят от экспериментальных параметров. Анализ электронографических результатов показывает, что погрешность структурной модели составляет в среднем лишь 0.08 А, несмотря на то что эффективная толщина исследованного кристалла равна 286 А. Результат, полученный уточнением порошковых рентгеновских данных методом Ритвельда, согласуется в пределах 0.04 А с рассчитанной структурой и в пределах 0.03 А - с данными рентгеноструктурного исследования монокристаллов [2].
展开▼
