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応用物理の発展を支える分析·評価技術

机译:支持应用物理学发展的分析和评估技术

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摘要

「分析·評価技術」から受け取るイメージは,分野によってまったく違ったものになるように 思います.例えば,放射線分野では加速器や原子炉から発生する各種放射線を用いた分析·評価 技術や計測技術を,計測·制御分野では精密計測やナノ計測あるいは計測標準化を,光分野では 光を用いた各種計測技術を,薄膜·表面分野では表面分析やプローブ顕微鏡を,スピントロニク ス·マグネティクス分野ではスピンや磁気の計測を,結晶エ学分野では結晶欠陥や微量不純物の 評価,などがィメージされるように思います.
机译:我认为,从“分析/评估技术”获得的图像将根据领域而完全不同。例如,在辐射领域,使用加速器和反应堆产生的各种辐射的分析/评估技术和测量技术,在测量/控制,精密测量,纳米测量或测量标准化领域,以及在光领域,使用光的各种测量。我认为应该对技术,薄膜和表面领域的表面分析和探针显微镜,自旋电子学和磁性领域的自旋和磁性的测量,晶体科学领域中的晶体缺陷和痕量杂质的评估等进行成像。我会。

著录项

  • 来源
    《应用物理》 |2010年第4期|共1页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 应用物理学;
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