首页> 外文期刊>粉体および粉末冶金 >強誘電体SrBi{sub}2Ta{sub}2O{sub}9の結晶構造解析と誘電特性,還元劣化機構の解明
【24h】

強誘電体SrBi{sub}2Ta{sub}2O{sub}9の結晶構造解析と誘電特性,還元劣化機構の解明

机译:强电介质SrBi {sub} 2Ta {sub} 2O {sub} 9的晶体结构分析及介电性能的阐明和还原劣化机理

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

FeRAMにはPZTペロブスカイトやBi層状構造化合物といった酸化物強誘電体が用いられ,その研究開発は,薄膜の合成やシリコンプロセスとの整合性を中心に活発に行われている.特にBi層状化合物強誘電体の一つであるSrBi{sub}2Ta{sub}2O{sub}9 (SBT)は大きな自発分極やFeRAMとして耐疲労性に優れているにも関わらず,材料物性に関する研究は1960年代以降ほとんど無く,その構造や基礎的な物性が十分理解されているとは言えない.本稿では,SrBi{sub}2Ta{sub}2O{sub}9の結晶構造,誘電特性,化学的安定性などの固体物理·固体化学的な研究例を紹介する.特に薄膜デバイスで問題となっている特性改良やプロセス耐性に関し,材料研究から得られる結果が重要な情報となることを示す.
机译:FeRAM使用PZT钙钛矿和Bi层状结构化合物等强氧化物电介质,并且正在积极地进行研究和开发,重点是薄膜的合成及其与硅工艺的一致性。特别地,作为双层复合强电介质之一的SrBi {sub} 2Ta {sub} 2O {sub} 9(SBT)具有出色的材料特性,例如大的自发极化和FeRAM。自1960年代以来,几乎没有研究,不能说它的结构和基本物理性质已被完全理解。本文介绍了固体物理学和固体化学研究实例,例如SrBi {sub} 2Ta {sub} 2O {sub} 9的晶体结构,介电性能和化学稳定性。特别地,我们表明,从材料研究中获得的结果是有关性能改进和工艺耐受性的重要信息,而这是薄膜器件中存在的问题。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号