首页> 外文期刊>工業材料 >最適な粒子撮像環境を実現する粒子画像解析装置「PITA-3」
【24h】

最適な粒子撮像環境を実現する粒子画像解析装置「PITA-3」

机译:实现最佳粒子成像环境的粒子图像分析仪“ PITA-3”

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

近年粒子の形状を画像解析によって測定を行う装置が販売されているが、粒子の撮影に最適な環境を備えている装置は少ない。画像解析で最適な粒子画像とは、以下のとおりである。(1)粒子同士が重なり合っていない。(2)撮影時に粒子の姿勢が安定して最大投影面積の撮影像が得られている。(3)撮影した粒子の輪郭が加工なしでシャープ·高コントラストであることが重要である。
机译:近年来,已经出售了通过图像分析来测量颗粒形状的设备,但是很少有设备具有拍摄颗粒的最佳环境。用于图像分析的最佳粒子图像如下。 (1)颗粒不重叠。 (2)在拍摄期间颗粒的姿势稳定,并且获得了具有最大投影面积的拍摄图像。 (3)重要的是,所捕获的颗粒的轮廓必须锋利并且具有高对比度而不进行处理。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号