回路基板の劣化·寿命診断方法の開発

摘要

診断技術は，実績のある信頼性評価技術，故障解析技術，環境測定技術などをベースに開発したものである。 特に，当社の保有技術である環境評価点を応用して開発した金属の腐食予測法により，複雑な環境ストレスを考慮した診断が可能になった。 銀についても同様の方法で腐食予測式汚が得られており，リレーの劣化診断など上記方法の適用範囲が広がっている。今後も，診断技術の開発及びデータベースのいっそうの蓄積により，ユーザーニーズに対応できる劣化?寿命診断及び対策提案ができるよう改良を続けていく所存である。