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デカップリング用低特性インピーダンス線路のパラメータ評価

机译:低特性阻抗线的去耦参数评估

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摘要

高周波のCMOS回路において,デカップリングキャパシタの代わりに,我々は特性インピーダンスの非常に小さな伝送線路を用いている.この伝送線路のことを我々は0Ω伝送線路と呼んでいる.しかし,0Ω伝送線路は非常に特性インピーダンスが小さいため,通常の2ポート測定では正確に特性を評価するのが難しく,測定結果の確からしさも判断しにくい.そこで,別の測定法として,2ポート構成による1ポート測定により0Ω伝送線路の特性インピーダンスと伝搬定数の評価を試みた.10GHz以下の周波数では両測定法で結果がほぼ一致したので,測定結果は確からしいと考えられる.
机译:在高频CMOS电路中,我们使用特性阻抗非常低的传输线来代替去耦电容器。我们将此传输线称为0Ω传输线。但是,由于0Ω传输线的特性阻抗非常小,因此难以通过通常的2端口测量来准确地评价特性,并且难以判断测量结果的精度。因此,作为另一种测量方法,我们尝试通过2端口配置的1端口测量来评估0Ω传输线的特性阻抗和传播常数。在10 GHz以下的频率下,两种测量方法的结果几乎相同,因此认为测量结果是确定的。

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