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MIセンサを利用した探傷プローブによる渦電流試験に関する検討

机译:使用MI传感器的探伤探头对涡流测试进行检查

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摘要

Θプローブを用いたきずの深さや長さの評価には、2度の走査が必要となる。そこで、検出部に二方向の磁束を検出できるMIセンサを利用したプレーナMIプローブを開発し、きず検出特性について報告を行った。今回、更なる検討として、寸法が異なるきずに対してプレーナMIプローブを適用した場合の検出特性について検討を行った。
机译:需要两次扫描以使用Θ探针评估缺陷的深度和长度。因此,我们开发了一种使用MI传感器的平面MI探针,该MI传感器可以检测到检测单元中两个方向的磁通量,并报告了探伤特征。这次,作为进一步的研究,我们研究了将平面MI探针应用于不同尺寸的划痕时的检测特性。

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