ダイズの低温着色抵抗性マーカーを利用した低温裂開抵抗性系統の選抜

摘要

夏季が低温である北海道の大豆作においては、子実背面の種皮が裂け、2枚の子葉の周 囲が付着せず乖離する障害粒である裂開粒が 多発し、安定生産に向けて大きな障壁となつ ている。演者らは裂開粒が発生する低温感受 性時期を明らかにし、人工気象室を用いた低 温裂開抵抗性の検定法を確立した（第に2回 講演会)。また、冷害年には種子の臍および臍 周辺が着色し、商品価値が低下する低温着色 粒も発生する。これらの障害粒には開花期後 の低温により発生するという共通点がある。 本研究では、低温着色と低温裂開の関係につ いて解析し、低温着色抵抗性マーカ—（Ic) が低温裂開抵抗性の選抜にも効果があるか検 証した。