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机译:开孔自旋低k介孔薄膜的正电子飞行时间测量
DIELECTRIC-CONSTANT MATERIALS; SILICA; SPECTROSCOPY; THERMALIZATION; INTERCONNECTS; EMISSION; POWDER;
机译:开孔自旋低k介孔薄膜的正电子飞行时间测量
机译:从of的lifetime灭寿命确定中孔薄膜的孔径
机译:用正电子飞行时间光谱法研究的纳米簇二氧化硅多孔膜的孔互连性
机译:用正电子飞行时间光谱研究高度有序的介孔二氧化硅薄膜
机译:使用基于束的正电子an灭寿命光谱仪探测聚合物薄膜。
机译:通过提取飞行时间分布来提高时间分辨测量的深度灵敏度
机译:用正电子湮没寿命光谱法评价纯二氧化硅沸石mFI低k薄膜的孔结构
机译:飞行时间测量由低温氯离子膜的紫外(紫外)激光蒸发产生的高温Cl2分子