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机译:用正电子湮没寿命光谱法评价纯二氧化硅沸石mFI低k薄膜的孔结构
Shuang Li; Jianing Sun; Zijian Li; Huagen Peng; David Gidley; E. Todd Ryan; Yushan Yan;
机译:用正电子An没寿命光谱法评估纯硅沸石MFI低κ薄膜中的孔结构
机译:用正电子an没寿命光谱揭示纳米多孔薄膜中隐藏的孔结构
机译:从of的lifetime灭寿命确定中孔薄膜的孔径
机译:多孔低k膜与周期孔隙结构的正电子湮没寿命光谱
机译:使用基于束的正电子an灭寿命光谱仪探测聚合物薄膜。
机译:通过正电子湮没寿命光谱和椭圆仪孔隙测定研究的开放孔隙率和孔径分布的介孔二氧化硅膜
机译:利用正电子湮没寿命谱揭示纳米多孔薄膜中隐藏的孔结构
机译:纯硅沸石超低K膜的晶圆上结晶
机译:硅沸石低k介电薄膜及其制备方法
机译:硅沸石低k介电薄膜
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