机译:瞬态声电技术确定Epi-GaAs中深层参数
机译:瞬态声电技术确定Epi-GaAs中深层参数
机译:使用Ⅰ-ⅤI和深能级瞬态光谱技术研究n型4H和6H碳化硅衬底上导电聚合物中的深层缺陷
机译:使用基于电荷的深能级瞬态光谱法(Q-DLTS)确定有机半导体中的局部陷阱参数
机译:深度瞬态光谱法测定聚酰亚胺薄膜中的阱参数
机译:用于确定半导体器件中陷阱参数的深层瞬态光谱法(DLTS)
机译:酶法和比色法测定尿毒症中尿酸水平
机译:深度光谱光谱和深层瞬态光谱法在SiGe / Si和GaAs上生长的p型In0.49Ga0.51p中带隙状态的测定