机译:基于开尔文探针力显微镜的静电驱动MEMS介质充电过程的系统可靠性研究
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机译:基于纳米摩擦学的新型表征技术,用于利用力距曲线测量静电驱动的NEMS / MEMS器件中的介电充电失效机理
机译:基于开尔文探针力显微镜的具有不同界面结构的PECVD氮化硅薄膜中介电电荷现象的纳米级表征
机译:使用kelvin探针显微镜进行RF MEMS开关硅氮化硅膜介质充电过程的综合研究
机译:1)通过扫描开尔文探针显微镜研究快速充电瞬变的概念验证实验。 2)桥接钌配合物的研究
机译:用开尔文探针力显微镜-磁力显微镜组合来区分电磁和静电相互作用
机译:开尔文探针力显微镜和静电力显微镜对铁电薄膜中极化的响应:理论和实验研究