机译:同时使用Brewster和m-line技术测量薄膜的折射率:组合实验装置
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机译:结合的同步加速器X射线技术和原位热退火过程中的薄层电阻测量,可证明Ge 2Sb2Te5薄膜中相关的结构和电学变化的证据
机译:用于强磁场中超导薄膜表面阻抗高温测量的微波和毫米波实验技术和设备
机译:测定高非线性薄膜非线性折射率的测量装置
机译:薄膜塑料红外测量的实验技术。
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机译:测量设置,用于测定高非线性薄膜非线性折射率的测量设定