机译:使用实验室可用的设备对InAs / GaAs量子点进行掠入射X射线衍射测量
Quantum Dot; Gazing Incidence X-Ray Diffraction; Symmetry; Columnar QD; Strain-Reducing Layer; Photoluminescence;
机译:使用实验室可用的设备对InAs / GaAs量子点进行掠入射X射线衍射测量
机译:利用掠入射X射线衍射表征InAs / GaAs柱状量子点结构
机译:从掠入射X射线衍射测量中提取的InAs量子点的密度依赖性成分
机译:掠入射小角X射线散射研究生长中断对InAs量子点结构的影响
机译:在2-D电场下探索InAs / GaAs量子点和量子点分子中的单孔状态
机译:从掠入射X射线衍射测量中提取的InAs量子点的密度依赖性成分
机译:从掠入射X射线衍射测量中提取的InAs量子点的密度依赖性成分