Wet-chemical conditioning of H-terminated silicon solar cell substrates Investigated by surface photovoltage measurements

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• 来源
  《Diffusion and Defect Data. Solid State Data, Part B. Solid State Phenomena》 |2013年第null期|共4页
• 作者

  Angermann H.; Stürzebecher U.; Kegel J.; Gottschalk C.; Wolke K.; Laades A.; Conrad E.; Klimm C.; Stegemann B.;

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• 作者单位

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 半导体物理学;
• 关键词

  Interface passivation; QSSPC; Saw damage; Si solar cell substrates; SPV; Texturization; Wet-chemical treatment;

  机译：界面钝化;QSSPC;锯齿损伤;硅太阳能电池基板;SPV;织构;湿化学处理;