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机译:四点弯曲过程中原位X射线衍射法测量薄膜的应力因子和残余应力
ELASTIC-CONSTANTS; THIN-FILMS; MECHANICAL-PROPERTIES; NICKEL; STRAIN; ELECTRODEPOSITS; TEXTURE; FORMULA;
机译:四点弯曲过程中原位X射线衍射法测量薄膜的应力因子和残余应力
机译:X射线衍射与四点弯曲耦合测量晶体固体膜的面内弹性常数
机译:薄膜的非环境X射线衍射残余应力分析:追踪纳米尺寸对热弹性常数的影响并确定残余应力的来源
机译:通过X射线衍射和同步加速器衍射分析测量硅太阳能电池中的残余应力和弯曲应力
机译:残余应力(应力)的X射线衍射测量:能量色散X射线残余应力测量。
机译:寡聚噻吩薄膜中的相变和单层结构的形成:用原位X射线衍射和电学测量相结合的探索
机译:不对称X射线衍射对外延薄膜残余应力评估的测量技术。
机译:疲劳时残余应力的变化。第1卷。缺口试样中X射线衍射的残余应力测量