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Method for producing a reference piece for the X-ray measurement of a residual stress and a reference piece for the X-ray measurement of a residual stress

机译:用于为残余应力的X射线测量产生参考件的方法,以及用于残余应力的X射线测量的参考件

摘要

[Object] The object of the present invention is to offer metallic material other than a strain-free iron powder as a reference piece for the X-ray measurement of a residual stress. [Means for solving the problem] The problem is solved in that after nano-crystallization of at least a part of the surface of a metallic material, the stress can be relieved by removing the inherent strain by annealing.
机译:[对象]本发明的目的是提供除了无应变铁粉之外的金属材料作为用于残余应力的X射线测量的基准件。 [解决问题的装置]解决了在金属材料表面的至少一部分的纳米结晶之后,通过通过退火除去固有的应变,可以减轻应力。

著录项

  • 公开/公告号DE112019007088T5

    专利类型

  • 公开/公告日2022-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SINTOKOGIO LTD.;

    申请/专利号DE20191107088T

  • 发明设计人 YUJI KOBAYASHI;AKINORI MATSUI;YUTA SAITO;

    申请日2019-12-13

  • 分类号G01N23/2005;C21D5/06;B24C1/10;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 23:12:18

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