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机译:ToF-SIMS表征超低κ介电膜中的污染物
Contamination; Low-κ; ToF-SIMS;
机译:ToF-SIMS表征超低κ介电膜中的污染物
机译:紫外线对UV辅助PECVD沉积低κSiOC(-H)介电薄膜的缺陷状态和电荷输运性质的影响
机译:使用ToF-SIMS分析对超薄纳米功能等离子体聚合物薄膜进行多变量表征
机译:利用X射线反射率表征多孔,低κ介电薄膜
机译:用于超低介电常数层间电介质应用的含氟和碳的PECVD膜和类金刚石碳膜的研究。
机译:用于微和纳米电子应用的低k介电薄膜的热稳定性的宽带介电光谱表征
机译:当量氧化层厚度小于10Å的Hf铝酸盐高k栅极电介质超薄膜的生长和表征
机译:超临界二氧化碳萃取致孔剂制备超低介电常数薄膜