机译:Ellipso-Height-Topometry一种测量表面形貌,层厚度和材料识别的新方法
Surface measurement; micro topometry; profilometry; ellipsometry; material recognition; material and film resonance phase error correction;
机译:Ellipso-Height-Topometry一种测量表面形貌,层厚度和材料识别的新方法
机译:计算机扫描仪作为监测腐蚀表面的一种手段:腐蚀层的厚度和形貌
机译:计算机扫描仪作为监测腐蚀表面的手段:腐蚀层的厚度和地形
机译:朝向表面形貌测量仪校准的连续频段啁啾材料测量
机译:使用两层,两种厚度和两种虹膜波导探针方法对导体支持的材料进行电磁材料表征:误差分析,仿真和实验结果。
机译:冲击振动载荷导致材料表面层的起伏形貌和硬度变化
机译:弹性层表面不稳定的状态空间法,材料性质随厚度方向的变化而变化