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一种测量镀层厚度的新方法

         

摘要

介绍以MCS-51单片机为核心,利用霍尔集成电路、集成函数运算放大器、V/F转换器等组成的新型镀层厚度测量仪.适合于对导磁工件上镀(涂)有非导磁材料的镀(涂)层厚度的测量.

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