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机译:尖端校准,通过接触共振原子力显微镜进行精确的模量测量
Contact resonance atomic force microscopy; (CR-AFM); Atomic force acoustic microscopy (AFAM); Tip calibration; Elastic modulus; Lateral force;
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机译:在接触共振原子力显微镜下局部样品斜率期间局部样品斜率的影响
机译:测量T形接触共振原子力显微镜显微镜显微镜的各向同性材料的泊松比和杨氏模量
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机译:接触共振原子力显微镜扫描速度现象的研究
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机译:在接触共振原子力显微镜下模量测量期间局部样品斜率的影响