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A method of combining STEM image with parallel beam diffraction and electron-optical conditions for diffractive imaging

机译:将STEM图像与平行束衍射和电子光学条件相结合的衍射成像方法

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摘要

We describe a method of combining STEM imaging functionalities with nanoarea parallel beam electron diffraction on a modern TEM. This facilitates the search for individual particles whose diffraction patterns are needed for diffractive imaging or structural studies of nanoparticles. This also lays out a base for 3D diffraction data collection.
机译:我们描述了一种在现代TEM上将STEM成像功能与纳米区域平行束电子衍射相结合的方法。这有助于寻找其衍射图案对于纳米粒子的衍射成像或结构研究而言需要的单个粒子。这也为3D衍射数据收集奠定了基础。

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