Grenzen uberwinden-durch Kombination von AOI und AXI in einem In-Iinefahigen System

摘要

In den letzten Jahren erreichte der Einsatz von optischen Testsystemen in der Leiterplattenfertigung ungeahnte Dimensionen. Da diese Technologie inzwischen ausgereift ist, haben optische Testsysteme in viele Elektronikfertigungen Einzug gehalten und leisten auch dort zuverlassige Dienste. Bei neuen Bauelementbauformen, die zunehmend eingesetzt werden, stossen die optischen Testsysteme an ihre Grenzen, doch auch hier gibt es eine Losung: die Kombination mit Rontgen.