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Raffungsmodelle fur die Qualifikation von Einpresskontakten fur Leiterplatten

机译:收集模型,用于印制电路板压配合触点的鉴定

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摘要

Leiterplatten anstelle von DCB-/Keramiksubstraten in rauen Umgebungen einzusetzen eroffnet erweiterte Designmoglichkeiten, insbesondere in Kombination mit thermoplastischen Gehausen. So kann durch Umspritzen von Stanzgittern (Leadframes) die elektrische Kontaktierung mittels Einpresskontakten realisiert werden. Die Moglichkeiten der beschleunigten Alterung sind jedoch in komplexen Systemen stark eingeschrankt, insbesondere wenn sich Ausfallmechanismen uberlagern oder gegenseitig beeinflussen. Dieser Artikel beinhaltet die Erstellung eines Raffungsmodells fur ein thermisch belastetes System aus einer Leiterplatte, die uber Einpress-Verbindungen an einen umspritzten Stanzgitterrahmen kontaktiert ist. Es konnte gezeigt werden, dass die temperaturabhangigen Materialparameter der Einzelkomponenten zu einer komplexen Wechselwirkung der Belastungsgrossen am Einpress-Kontakt fuhren. Der zu analysierende Ausfallmechanismus beschleunigt sich bei verscharften Prufbedingungen nicht unbedingt, sondern kann sich verlangsamen oder von Ausfallmechanismen uberlagert werden, die nicht direkt auf den Kontakt zuruckzufuhren sind.
机译:在恶劣的环境中使用印刷电路板代替DCB /陶瓷基板可提供更多的设计可能性,尤其是与热塑性塑料外壳结合使用时。例如,通过包覆模制引线框,可以使用压配合触点进行电接触。但是,在复杂的系统中,尤其是当故障机制重叠或相互影响时,加速老化的可能性受到严重限制。本文包括从印刷电路板创建热应力系统的收集模型,该印刷电路板通过压配合连接与包覆成型的引线框架接触。可以看出,各个部件的取决于温度的材料参数导致压配合触点上的载荷变量之间复杂的相互作用。要分析的故障机制不一定在更严格的测试条件下加速,而是会减慢或叠加在与触点不直接相关的故障机制上。

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