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Journal of Electronic Testing

Journal of Electronic Testing

中文名称：电子测试杂志

ISSN：0923-8174
出版周期：Bimonthly

发文量：385

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1.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
2.Modified Selective Huffman Coding for Optimization of Test Data Compression, Test Application Time and Area Overhead

机译：改进的选择性霍夫曼编码，可优化测试数据压缩，测试应用时间和面积开销
- 作者：Usha Sandeep Mehta;Kankar S. Dasgupta;Nirnjan M. Devashrayee
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
3.Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time

机译：千叶扫描延迟故障测试，测试时间短
- 作者：Kazuteru Namba;Hideo Ito
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
4.Enabling Remote Testing: Embedded Test Controller and Mixed-signal Test Architecture

机译：支持远程测试：嵌入式测试控制器和混合信号测试架构
- 作者：Jari Hannu;Teuvo Saikkonen;Juha Häkkinen;Juha Karttunen;Markku Moilanen
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
5.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
6.A Framework for Automated Detection of Power-related Software Errors in Industrial Verification Processes

机译：在工业验证过程中自动检测与电源相关的软件错误的框架
- 作者：Stefano Gandini;Walter Ruzzarin;Ernesto Sanchez;Giovanni Squillero;Alberto Tonda
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
7.An Effective and Accurate Methodology for the Cell Internal Defect Diagnosis

机译：一种有效，准确的细胞内部缺陷诊断方法
- 作者：Aymen Ladhar;Mohamed Masmoudi
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
8.Study of Read Recovery Dynamic Faults in 6T SRAMS and Method to Improve Test Time

机译：6T SRAMS中读取恢复动态故障的研究及缩短测试时间的方法
- 作者：Prashant Dubey;Akhil Garg;Shashank Mahajan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期
9.On-Chip Delay Measurement Based Response Analysis for Timing Characterization

机译：基于片上延迟测量的响应分析用于时序表征
- 作者：Ramyanshu Datta;Antony Sebastine;Ashwin Raghunathan;Gary Carpenter;Kevin Nowka;Jacob A. Abraham
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第6期

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