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Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition
召开年:
2017
召开地:
Swisstech(CH)
出版时间:
-
会议文集:
-
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4064
条结果
1.
A Mechanism for energy-efficient reuse of decoding and scheduling of x86 instruction streams
机译:
一种节能再利用X86指令流的能力再利用的机制
作者:
Marcelo Brandalero
;
Antonio Carlos S. Beck
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Program processors;
Pipelines;
Scheduling;
Registers;
Decoding;
Energy consumption;
Hardware;
2.
Digital-microfluidic biochips for quantitative analysis: Bridging the Gap between microfluidics and microbiology
机译:
数码微流体生物芯片用于定量分析:桥接微流体和微生物学之间的差距
作者:
Mohamed Ibrahim
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Protocols;
Heating systems;
Biological system modeling;
Automation;
Real-time systems;
Decision making;
System-on-chip;
3.
AFEC: An Analytical Framework for Evaluating Cache Performance in Out-of-Order Processors
机译:
AFEC:用于评估超出订阅处理器的缓存性能的分析框架
作者:
Kecheng Ji
;
Ming Ling
;
Qin Wang
;
Longxing Shi
;
Jianping Pan
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
framework;
program;
simulations;
4.
Pushing the limits of voltage over-scaling for error-resilient applications
机译:
推动误差弹性应用的电压过度缩放的限制
作者:
Rengarajan Ragavan
;
Benjamin Barrois
;
Cedric Killian
;
Olivier Sentieys
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Adders;
Timing;
Clocks;
Hardware;
Silicon-on-insulator;
Voltage control;
SPICE;
5.
An evolutionary approach to runtime variability mapping and mitigation on a multi-reconfigurable architecture
机译:
多重可重构架构运行时可变性映射和缓解的进化方法
作者:
Simon J. Bale
;
Pedro B. Campos
;
Martin A. Trefzer
;
James A. Walker
;
Andy M. Tyrrell
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Transistors;
Ring oscillators;
Logic gates;
Frequency measurement;
Performance evaluation;
Routing;
6.
Automated synthesis of compact crossbars for sneak-path based in-memory computing
机译:
基于内存计算的潜行路径自动合成紧凑型横梁
作者:
Dwaipayan Chakraborty
;
Sumit Kumar Jha
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Neumann architectures;
reinforced;
Boolean formula;
7.
Online monitoring and adaptive routing for aging mitigation in NoCs
机译:
NOCS老化缓解的在线监测和自适应路由
作者:
Zana Ghaderi
;
Ayed Alqahtani
;
Nader Bagherzadeh
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Aging;
Cats;
Routing;
Stress;
Monitoring;
Degradation;
Transistors;
8.
Automated synthesis of compact crossbars for sneak-path based in-memory computing
机译:
基于内存计算的潜行路径自动合成紧凑型横梁
作者:
Dwaipayan Chakraborty
;
Sumit Kumar Jha
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Memristors;
Boolean functions;
Nanoscale devices;
Adders;
Binary decision diagrams;
Nanowires;
9.
SERD: A Simulation Framework for Estimation of System Level Reliability Degradation
机译:
SERD:一种估计系统级可靠性降级的仿真框架
作者:
Saurav Kumar Ghosh
;
Soumyajit Dey
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
accommodate;
quiescent;
further demonstrated;
10.
Energy-adaptive scheduling of imprecise computation tasks for QoS optimization in real-Time MPSoC systems
机译:
实时MPSOC系统中QoS优化的不精确计算任务的能量 - 适应性调度
作者:
Junlong Zhou
;
Jianming Yan
;
Tongquan Wei
;
Mingsong Chen
;
Xiaobo Sharon Hu
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Real-time systems;
Program processors;
Energy consumption;
Quality of service;
Resource management;
Uncertainty;
Power dissipation;
11.
A methodology for the design of dynamic accuracy operators by runtime back bias
机译:
运行时回偏压的动态精度运算符的方法
作者:
Daniele Jahier Pagliari
;
Yves Durand
;
David Coriat
;
Anca Molnos
;
Edith Beigne
;
Enrico Macii
;
Massimo Poncino
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Delays;
Hardware;
Power demand;
Silicon-on-insulator;
Adders;
Threshold voltage;
12.
READEX: Linking two ends of the computing continuum to improve energy-efficiency in dynamic applications
机译:
ReadEx:连接计算连续uum的两端,以提高动态应用中的节能
作者:
Per Gunnar Kjeldsberg
;
Andreas Gocht
;
Michael Gerndt
;
Lubomir Riha
;
Joseph Schuchart
;
Umbreen Sabir Mian
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Tuning;
Embedded systems;
Runtime;
Programming;
Optimization;
Europe;
Energy consumption;
13.
Charka: A Reliability-Aware Test Scheme for Diagnosis of Channel Shorts Beyond Mesh NoCs
机译:
Charka:一种可靠性意识的测试方案,用于诊断Mesh Noc的频道短路
作者:
Biswajit Bhowmik
;
Jantindra Kumar Deka
;
Santosh Biswas
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
channel short faults;
design for manufacturability;
yield;
reliability;
and defect tolerance;
on-line fault detection and diagnosis;
model effectiveness;
on-line performance evaluation;
14.
Accurate Private/Shared Classification of Memory Accesses: A Run-time Analysis System for the LEON3 Multi-core Processor
机译:
内存访问的准确私有/共享分类:LEON3多核处理器的运行时分析系统
作者:
Nam Ho
;
Ishraq Ibne Ashraf
;
Paul Kaufmann
;
Marco Platzner
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
evaluate;
overhead;
classification;
15.
Charka: A reliability-aware test scheme for diagnosis of channel shorts beyond mesh NoCs
机译:
Charka:一种可靠性意识的测试方案,用于诊断Mesh Noc的频道短路
作者:
Biswajit Bhowmik
;
Jantindra Kumar Deka
;
Santosh Biswas
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Wires;
Payloads;
Receivers;
Frequency division multiplexing;
Testing;
Silicon;
Reliability;
16.
A Methodology for the Design of Dynamic Accuracy Operators by Runtime Back Bias
机译:
运行时回偏压的动态精度运算符的方法
作者:
Daniele Jahier Pagliari
;
Yves Durand
;
David Coriat
;
Anca Molnos
;
Edith Beigne
;
Enrico Macii
;
Massimo Poncino
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
based;
voltage;
many emerging;
17.
Online Workload Monitoring with the Feedback of Actual Execution Time for Real-Time Systems
机译:
在线工作负载监控,具有实际执行时间的反馈,用于实时系统
作者:
Biao Hu
;
Kai Huang
;
Gang Chen
;
Long Cheng
;
Alois Knoll
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
accept events;
considered;
feedback scheme;
18.
READEX: Linking Two Ends of the Computing Continuum to Improve Energy-efficiency in Dynamic Applications
机译:
ReadEx:连接计算连续uum的两端,以提高动态应用中的节能
作者:
Per Gunnar Kjeldsberg
;
Andreas Gocht
;
Michael Gerndt
;
Lubomir Riha
;
Joseph Schuchart
;
Umbreen Sabir Mian
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
become;
criteria;
embedded systems domain;
19.
A layered formal framework for modeling of cyber-physical systems
机译:
用于建模网络系统系统的层面正式框架
作者:
George Ungureanu
;
Ingo Sander
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Atomic layer deposition;
Semantics;
Analytical models;
Cyber-physical systems;
Synchronization;
Computational modeling;
Skeleton;
20.
Online Monitoring and Adaptive Routing for Aging Mitigation in NoCs
机译:
NOCS老化缓解的在线监测和自适应路由
作者:
Zana Ghaderi
;
Ayed Alqahtani
;
Nader Bagherzadeh
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Aging;
NoCs;
Monitoring;
Delay Degradation;
Adaptive Routing;
21.
Ultra low power microelectronics for wearable and medical devices
机译:
用于可穿戴设备的超低功率微电子
作者:
P.-F. Rüedi
;
A. Bishof
;
M. K. Augustyniak
;
P. Persechini
;
J.-L. Nagel
;
M. Pons
;
S. Emery
;
O. Chételat
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Sensors;
Light emitting diodes;
Current measurement;
Electrocardiography;
Monitoring;
Biomedical monitoring;
Frequency measurement;
22.
Architectural Optimizations for High Performance and Energy Efficient Smith-Waterman Implementation on FPGAs using OpenCL
机译:
使用OpenCL在FPGA的高性能和节能史密斯水工实施的建筑优化
作者:
Lorenzo Di Tucci
;
Kenneth OBrien
;
Michaela Blott
;
Marco D. Santambrogio
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
pipeline;
guaranteed;
FPGA implementations;
23.
Subgradient based multiple-starting-point algorithm for non-smooth optimization of analog circuits
机译:
基于子学基于模拟电路的非平滑优化的多起起点算法
作者:
Wenlong Lv
;
Fan Yang
;
Changhao Yan
;
Dian Zhou
;
Xuan Zeng
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Optimization;
Linear programming;
Analog circuits;
Algorithm design and analysis;
Frequency modulation;
Integrated circuit modeling;
Approximation algorithms;
24.
Live Together or Die Alone: Block Cooperation to Extend Lifetime of Resistive Memories
机译:
独自生活或死亡:阻止合作延长电阻记忆的寿命
作者:
Mohammad Khavari Tavana
;
Amir Kavyan Ziabari
;
David Kaeli
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
bringing;
Employing;
recover;
25.
Taking One-to-one Mappings for Granted: Advanced Logic Design of Encoder Circuits
机译:
考虑一对一映射:编码器电路的高级逻辑设计
作者:
Alwin Zulehner
;
Robert Wille
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
guaranteeing;
mappings;
resulting;
26.
An on-line framework for improving reliability of real-time systems on “big-little” type MPSoCs
机译:
用于提高“大点”型MPSOC上实时系统可靠性的在线框架
作者:
Yue Ma
;
Thidapat Chantem
;
Robert P. Dick
;
Shige Wang
;
X. Sharon Hu
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Reliability;
Temperature measurement;
Real-time systems;
Power demand;
Power measurement;
Hardware;
Transient analysis;
27.
Rethinking on-chip DRAM cache for simultaneous performance and energy optimization
机译:
重新思考片上DRAM缓存,用于同时性能和能量优化
作者:
Fazal Hameed
;
Jeronimo Castrillon
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Random access memory;
Organizations;
Energy consumption;
Memory management;
Optimization;
Delays;
Bandwidth;
28.
Architectural optimizations for high performance and energy efficient Smith-Waterman implementation on FPGAs using OpenCL
机译:
使用OpenCL在FPGA的高性能和节能史密斯水工实施的建筑优化
作者:
Lorenzo Di Tucci
;
Kenneth OBrien
;
Michaela Blott
;
Marco D. Santambrogio
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Performance evaluation;
Optimization;
Hardware;
Computer architecture;
Graphics processing units;
Algorithm design and analysis;
29.
Opportunistic write for fast and reliable STT-MRAM
机译:
机会主义写作快速可靠的STT-MRAM
作者:
Nour Sayed
;
Mojtaba Ebrahimi
;
Rajendra Bishnoi
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Switches;
Thermal stability;
Magnetic tunneling;
Error correction codes;
Robustness;
Random access memory;
30.
Energy-performance optimized design of silicon photonic interconnection networks for high-performance computing
机译:
高性能计算硅光子互连网络能量性能优化设计
作者:
Meisam Bahadori
;
Sébastien Rumley
;
Robert Polster
;
Alexander Gazman
;
Matt Traverso
;
Mark Webster
;
Kaushik Patel
;
Keren Bergman
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Optical device fabrication;
Optical receivers;
Optical fiber communication;
Optical waveguides;
Optical modulation;
Silicon photonics;
Couplings;
31.
Design Space Exploration of FPGA Accelerators for Convolutional Neural Networks
机译:
卷积神经网络FPGA加速器的设计空间探索
作者:
Atul Rahman
;
Sangyun Oh
;
Jongeun Lee
;
Kiyoung Choi
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
increasing;
machine;
CNN model;
32.
Design automation and design space exploration for quantum computers
机译:
量子计算机设计自动化与设计空间探索
作者:
Mathias Soeken
;
Martin Roetteler
;
Nathan Wiebe
;
Giovanni De Micheli
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Algorithm design and analysis;
Quantum computing;
Hardware design languages;
Computers;
Computer architecture;
Boolean functions;
33.
Advanced spintronic memory and logic for non-volatile processors
机译:
用于非易失性处理器的高级旋转内存和逻辑
作者:
Robert Perricone
;
Ibrahim Ahmed
;
Zhaoxin Liang
;
Meghna G. Mankalale
;
X. Sharon Hu
;
Chris H. Kim
;
Michael Niemier
;
Sachin S. Sapatnekar
;
Jian-Ping Wang
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Program processors;
Spintronics;
Magnetic tunneling;
Wireless fidelity;
Logic gates;
Magnetic domain walls;
34.
An evolutionary approach to hardware encryption and Trojan-horse mitigation
机译:
硬件加密与木马缓解的进化方法
作者:
Andrea Marcelli
;
Marco Restifo
;
Ernesto Sanchez
;
Giovanni Squillero
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Encryption;
Logic gates;
Integrated circuits;
Evolutionary computation;
Hardware;
35.
Performance evaluation and design trade-offs for wireless-enabled SMART NoC
机译:
无线启用智能NOC的性能评估和设计权衡
作者:
Karthi Duraisamy
;
Partha Pratim Pande
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Wireless communication;
Wires;
Data transfer;
Two dimensional displays;
System-on-chip;
Ports (Computers);
36.
RETHINK big: European Roadmap for Hardware and Networking Optimizations for Big Data
机译:
Rethink Big:用于大数据的硬件和网络优化的欧洲路线图
作者:
Gina Alioto
;
Paul Carpenter
;
Adrián Cristal
;
Osman Unsal
;
Marcus Leich
;
Christophe Avare
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
roadmap;
Big Data;
network;
hardware;
37.
Optimization of retargeting for IEEE 1149.1 TAP controllers with embedded compression
机译:
用于IEEE 1149.1重新定位的优化嵌入式压缩的点击控制器
作者:
Sebastian Huhn
;
Stephan Eggersglü?
;
Krishnendu Chakrabarty
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Hardware;
Linear programming;
System-on-chip;
Dictionaries;
Data transfer;
Optimization;
Testing;
38.
Robust TSV-based 3D NoC design to counteract electromigration and crosstalk noise
机译:
基于强大的TSV 3D NOC设计,以抵消电迁移和串扰噪声
作者:
Sourav Das
;
Janardhan Rao Doppa
;
Partha Pratim Pande
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Through-silicon vias;
Three-dimensional displays;
Crosstalk;
Stress;
Resource management;
Reliability;
Delays;
39.
Ultra-Low Power and Dependability for IoT Devices (Invited Paper for IoT Technologies)
机译:
IOT设备的超低功耗和可靠性(IOT Technologies的邀请纸)
作者:
J?rg Henkel
;
Santiago Pagani
;
Hussam Amrouch
;
Lars Bauer
;
Farzad Samie
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
IoT;
reliability;
context;
40.
BASTION: Board and SoC test instrumentation for ageing and no failure found
机译:
堡垒:老化的董事会和SoC测试仪器,发现没有任何故障
作者:
Artur Jutman
;
Christophe Lotz
;
Erik Larsson
;
Matteo Sonza Reorda
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Hans Kerkhoff
;
Rene Krenz-Baath
;
Piet Engelke
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Instruments;
Circuit faults;
Aging;
Monitoring;
Measurement;
Network topology;
Electronic mail;
41.
FPGA-Based Failure Mode Testing and Analysis for MLC NAND Flash Memory
机译:
基于FPGA的MLC NAND闪存的故障模式测试和分析
作者:
Meng Zhang
;
Fei Wu
;
He Huang
;
Qian Xia
;
Jian Zhou
;
Changsheng Xie
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
ECC;
MSB;
discovered;
42.
Opportunistic Write for Fast and Reliable STT-MRAM
机译:
机会主义写作快速可靠的STT-MRAM
作者:
Nour Sayed
;
Mojtaba Ebrahimi
;
Rajendra Bishnoi
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
ECCs;
STT-MRAM;
cache applications;
43.
FPGA-based failure mode testing and analysis for MLC NAND flash memory
机译:
基于FPGA的MLC NAND闪存的故障模式测试和分析
作者:
Meng Zhang
;
Fei Wu
;
He Huang
;
Qian Xia
;
Jian Zhou
;
Changsheng Xie
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Interference;
Resource management;
Testing;
Reliability;
Threshold voltage;
Error correction codes;
Erbium;
44.
Exploiting Data-Dependence and Flip-Flop Asymmetry for Zero-Overhead System Soft Error Mitigation
机译:
利用数据依赖性和触发器不对称,用于零开销系统软错误缓解
作者:
Liangzhen Lai
;
Vikas Chandra
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
flops/latches;
asymmetric;
schematic;
45.
Design Automation and Design Space Exploration for Quantum Computers
机译:
量子计算机设计自动化与设计空间探索
作者:
Mathias Soeken
;
Martin Roetteler
;
Nathan Wiebe
;
Giovanni De Micheli
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
algorithms;
difficulty;
quantum;
46.
An extension of Cohn's sensitivity theorem to mismatch analysis of 1-port resistor networks
机译:
COHN敏感性定理对1端电阻网络不匹配分析的延伸
作者:
Sebastien Cliquennois
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Resistors;
Resistance;
Mathematical model;
Sensitivity;
Calculus;
Voltage measurement;
Algorithm design and analysis;
47.
WULoRa: An energy efficient IoT end-node for energy harvesting and heterogeneous communication
机译:
WULORA:用于能源收集和异构通信的节能物联网终端节点
作者:
Michele Magno
;
Faycal Ait Aoudia
;
Matthieu Gautier
;
Olivier Berder
;
Luca Benini
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Wireless sensor networks;
Temperature sensors;
Wireless communication;
Monitoring;
Energy harvesting;
Network architecture;
48.
Advanced Spintronic Memory and Logic For Non-Volatile Processors
机译:
用于非易失性处理器的高级旋转内存和逻辑
作者:
Robert Perricone
;
Ibrahim Ahmed
;
Zhaoxin Liang
;
Meghna G. Mankalale
;
X. Sharon Hu
;
Chris H. Kim
;
Michael Niemier
;
Sachin S. Sapatnekar
;
Jian-Ping Wang
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
loT;
achieving;
progress;
49.
Synthesis of on-chip control circuits for mVLSI biochips
机译:
用于MVLSI Biochips片上控制电路的综合
作者:
Seetal Potluri
;
Alexander Schneider
;
Martin H?rslev-Petersen
;
Paul Pop
;
Jan Madsen
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
System-on-chip;
Valves;
Physical design;
Routing;
Resistors;
Logic gates;
Biomembranes;
50.
Ultra-low power and dependability for IoT devices (Invited paper for IoT technologies)
机译:
IOT设备的超低功耗和可靠性(IOT Technologies的邀请纸)
作者:
J?rg Henkel
;
Santiago Pagani
;
Hussam Amrouch
;
Lars Bauer
;
Farzad Samie
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Power demand;
Energy consumption;
Wireless sensor networks;
Sensors;
Wireless communication;
Low-power electronics;
Program processors;
51.
Voltage-controlled MRAM for working memory: Perspectives and challenges
机译:
用于工作记忆的电压控制MRAM:透视和挑战
作者:
Wang Kang
;
Liang Chang
;
Youguang Zhang
;
Weisheng Zhao
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Magnetic tunneling;
Magnetization;
Switches;
Semiconductor device modeling;
Nonvolatile memory;
Energy barrier;
Mathematical model;
52.
Hardware architecture of Bidirectional Long Short-Term Memory Neural Network for Optical Character Recognition
机译:
用于光学字符识别的双向长短期内存神经网络的硬件架构
作者:
Vladimir Rybalkin
;
Norbert Wehn
;
Mohammad Reza Yousefi
;
Didier Stricker
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Hardware;
Memory management;
Character recognition;
Logic gates;
Field programmable gate arrays;
Bandwidth;
53.
Benefits of asynchronous control for analog electronics: Multiphase buck case study
机译:
模拟电子产品异步控制的好处:多相降压案例研究
作者:
Danil Sokolov
;
Vladimir Dubikhin
;
Victor Khomenko
;
David Lloyd
;
Andrey Mokhov
;
Alex Yakovlev
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
MOSFET;
Timing;
Libraries;
Switches;
Reliability;
Power demand;
54.
An efficient leakage-aware thermal simulation approach for 3D-ICs using corrected linearized model and algebraic multigrid
机译:
使用校正的线性化模型和代数Multigrid实现3D-IC的高效泄漏感知热仿真方法
作者:
Chao Yan
;
Hengliang Zhu
;
Dian Zhou
;
Xuan Zeng
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Mathematical model;
Heating systems;
Computational modeling;
Green's function methods;
Cooling;
Iterative methods;
Solid modeling;
55.
Voltage-Controlled MRAM for Working Memory: Perspectives and Challenges
机译:
用于工作记忆的电压控制MRAM:透视和挑战
作者:
Wang Kang
;
Liang Chang
;
Youguang Zhang
;
Weisheng Zhao
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
IPC;
should;
efficiently;
56.
Exploiting data-dependence and Flip-Flop asymmetry for zero-overhead system soft error mitigation
机译:
利用数据依赖性和触发器不对称,用于零开销系统软错误缓解
作者:
Vikas Chandra
;
Liangzhen Lai
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Latches;
Layout;
Inverters;
Registers;
Logic gates;
Transistors;
Random access memory;
57.
Revamping timing error resilience to tackle choke points at NTC systems
机译:
改造定时误差弹性在NTC系统上解决扼流圈点
作者:
Aatreyi Bal
;
Shamik Saha
;
Sanghamitra Roy
;
Koushik Chakraborty
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Inductors;
Logic gates;
Delays;
Sensors;
Threshold voltage;
Silicon;
58.
Rethinking On-chip DRAM Cache for Simultaneous Performance and Energy Optimization
机译:
重新思考片上DRAM缓存,用于同时性能和能量优化
作者:
Fazal Hameed
;
Jeronimo Castrillon
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
compared;
organizations;
important;
59.
Revamping Timing Error Resilience to Tackle Choke Points at NTC Systems
机译:
改造定时误差弹性在NTC系统上解决扼流圈点
作者:
Aatreyi Bal
;
Shamik Saha
;
Sanghamitra Roy
;
Koushik Chakraborty
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
variation;
conspicuous;
NTC;
60.
An Efficient Leakage-Aware Thermal Simulation Approach for 3D-ICs Using Corrected Linearized Model and Algebraic Multigrid
机译:
使用校正的线性化模型和代数Multigrid实现3D-IC的高效泄漏感知热仿真方法
作者:
Chao Yan
;
Hengliang Zhu
;
Dian Zhou
;
Xuan Zeng
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
experiments;
proposed;
basically;
61.
Optimization of Retargeting for IEEE 1149.1 TAP Controllers with Embedded Compression
机译:
用于IEEE 1149.1重新定位的优化嵌入式压缩的点击控制器
作者:
Sebastian Huhn
;
Stephan Eggersglü?
;
Krishnendu Chakrabarty
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
TAT;
FV;
previous techniques;
62.
Taking one-to-one mappings for granted: Advanced logic design of encoder circuits
机译:
考虑一对一映射:编码器电路的高级逻辑设计
作者:
Alwin Zulehner
;
Robert Wille
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Hamming weight;
Encoding;
Quantum computing;
Complexity theory;
Integrated circuit modeling;
63.
BASTION: Board and SoC Test Instrumentation for Ageing and No Failure Found
机译:
堡垒:老化的董事会和SoC测试仪器,发现没有任何故障
作者:
Artur Jutman
;
Christophe Lotz
;
Erik Larsson
;
Matteo Sonza Reorda
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Hans Kerkhoff
;
Rene Krenz-Baath
;
Piet Engelke
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
No-Fault-Found;
No-Trouble-Found;
Aging;
Embedded Instruments;
IEEE 1687;
IJTAG;
64.
Live together or Die Alone: Block cooperation to extend lifetime of resistive memories
机译:
独自生活或死亡:阻止合作延长电阻记忆的寿命
作者:
Mohammad Khavari Tavana
;
Amir Kavyan Ziabari
;
David Kaeli
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Metadata;
Phase change materials;
Random access memory;
Error correction;
Error correction codes;
Layout;
Standards;
65.
Design space exploration of FPGA accelerators for convolutional neural networks
机译:
卷积神经网络FPGA加速器的设计空间探索
作者:
Atul Rahman
;
Sangyun Oh
;
Jongeun Lee
;
Kiyoung Choi
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Arrays;
Digital signal processing;
Shape;
Random access memory;
System-on-chip;
Bandwidth;
66.
Synthesis of activation-parallel convolution structures for neuromorphic architectures
机译:
神经族架构活化平行卷积结构的合成
作者:
Seban Kim
;
Jaeyong Chung
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Convolution;
Delays;
Neuromorphics;
Parallel processing;
Two dimensional displays;
Neurons;
Biological neural networks;
67.
Energy-Performance Optimized Design of Silicon Photonic Interconnection Networks for High-Performance Computing
机译:
高性能计算硅光子互连网络能量性能优化设计
作者:
Meisam Bahadori
;
Sébastien Rumley
;
Robert Polster
;
Alexander Gazman
;
Matt Traverso
;
Mark Webster
;
Kaushik Patel
;
Keren Bergman
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
electrical;
optical models;
elements;
68.
Subgradient Based Multiple-Starting-Point Algorithm for Non-Smooth Optimization of Analog Circuits
机译:
基于子学基于模拟电路的非平滑优化的多起起点算法
作者:
Wenlong Lv
;
Fan Yang
;
Changhao Yan
;
Dian Zhou
;
Xuan Zeng
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Worst-case optimization;
Shor's R algorithm;
Multiple-starting-point;
69.
An On-Line Framework for Improving Reliability of Real-Time Systems on 'Big-Little' Type MPSoCs
机译:
用于提高“大点”型MPSOC上实时系统可靠性的在线框架
作者:
Yue Ma
;
Thidapat Chantem
;
Robert P. Dick
;
Shige Wang
;
X. Sharon Hu
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Soft-error reliability;
Lifetime reliability;
Heterogeneous MPSoC;
Real-time embedded system;
70.
An Extension of Cohn's Sensitivity Theorem to Mismatch Analysis of 1-Port Resistor Networks
机译:
COHN敏感性定理对1端电阻网络不匹配分析的延伸
作者:
Sébastien Cliquennois
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
comparing theoretical results;
Monte-Carlo;
R-networks;
71.
A thermally-aware energy minimization methodology for global interconnects
机译:
全球互连的热敏感知能量最小化方法
作者:
Soheil Nazar Shahsavani
;
Alireza Shafaei
;
Shahin Nazarian
;
Massoud Pedram
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Delays;
FinFETs;
Threshold voltage;
Integrated circuit interconnections;
Wires;
Resistance;
Repeaters;
72.
Recovery-aware proactive TSV repair for electromigration in 3D ICs
机译:
恢复感知主动TSV修复3D IC中的电迁移
作者:
Shengcheng Wang
;
Hongyang Zhao
;
Sheldon X.-D. Tan
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Through-silicon vias;
Maintenance engineering;
Three-dimensional displays;
Stress;
Redundancy;
73.
SPARX — A side-channel protected processor for ARX-based cryptography
机译:
sparx - 基于ARX的加密术的侧通道保护处理器
作者:
Florian Bache
;
Tobias Schneider
;
Amir Moradi
;
Tim Giineysu
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Hardware;
Ciphers;
Registers;
Adders;
Computer architecture;
74.
MARS: A Flexible Real-time Streaming Platform for Testing Automation Systems
机译:
火星:用于测试自动化系统的灵活实时流平台
作者:
Raphael Eidenbenz
;
Alexandru Moga
;
Thanikesavan Sivanthi
;
Carsten Franke
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
systems;
importance;
evaluation results;
75.
MeSAP: A fast analytic power model for DRAM memories
机译:
MESAP:DRAM存储器的快速分析功率模型
作者:
Sandeep Poddar
;
Rik Jongerius
;
Leandro Fiorin
;
Giovanni Mariani
;
Gero Dittmann
;
Andreea Anghel
;
Henk Corporaal
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Random access memory;
Analytical models;
Program processors;
Computational modeling;
Memory management;
Tools;
Clocks;
76.
Efficient synchronization methods for LET-based applications on a Multi-Processor System on Chip
机译:
芯片上多处理器系统上基于租用的高效同步方法
作者:
Gabriela Breaban
;
Sander Stuijk
;
Kees Goossens
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Synchronization;
Semantics;
Sensors;
Actuators;
Clocks;
Computational modeling;
77.
Soft Error-Aware Architectural Exploration for Designing Reliability Adaptive Cache Hierarchies in Multi-Cores
机译:
用于在多核中设计可靠性自适应缓存层次结构的软错误感知架构探索
作者:
Arun Subramaniyan
;
Semeen Rehman
;
Muhammad Shafique
;
Akash Kumar
;
J?rg Henkel
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
considering;
vulnerability;
providing;
78.
A Coordinated Multi-Agent Reinforcement Learning Approach to Multi-Level Cache Co-partitioning
机译:
多级缓存协同分区的协调多智能体增强学习方法
作者:
Rahul Jain
;
Preeti Ranjan Panda
;
Sreenivas Subramoney
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
require;
special;
multi-level;
79.
A Log-aware Synergized Scheme for Page-level FTL Design
机译:
页面级FTL设计的日志感知协同方案
作者:
Chu Li
;
Dan Feng
;
Yu Hua
;
Fang Wang
;
Chuntao Jiang
;
Wei Zhou
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
SSDs;
FTL;
translation;
80.
Location detection for navigation using IMUs with a map through coarse-grained machine learning
机译:
通过IMU通过粗粒机学习使用IMU的导航位置检测
作者:
E. J. Jose Gonzalez
;
Chen Luo
;
Anshumali Shrivastava
;
Krishna Palem
;
Yongshik Moon
;
Soonhyun Noh
;
Daedong Park
;
Seongsoo Hong
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Estimation;
Global Positioning System;
Gyroscopes;
Sensors;
Noise measurement;
Accelerometers;
81.
Operand Size Reconfiguration for Big Data Processing in Memory
机译:
操作数大小重新配置内存中的大数据处理
作者:
Paulo C. Santos
;
Geraldo F. Oliveira
;
Diego G. Tome
;
Marco A. Z. Alves
;
Eduardo C. Almeida
;
Luigi Carro
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
In-Memory Processing;
Big Data;
Database;
Reconfigurable;
Vector Instructions;
Hybrid Memory Cube;
82.
Efficient Yield Optimization Method using a Variable K-Means Algorithm for Analog IC Sizing
机译:
一种使用变量K平均算法模拟IC尺寸的高效产量优化方法
作者:
António Canelas
;
Ricardo Martins
;
Ricardo Póvoa
;
Nuno Louren?o
;
Nuno Horta
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Analog Integrated Circuits;
Electronic Design Automation;
Robust Design;
Yield Optimization;
Monte Carlo Simulations;
Clustering;
K-Means;
83.
VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories
机译:
VAET-STT:基于STT-MRAM的存储器的变形意识估计工具
作者:
Sarath Mohanachandran Nair
;
Rajendra Bishnoi
;
Mohammad Saber Golanbari
;
Fabian Oboril
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Magnetic tunneling;
Computer architecture;
Tools;
Microprocessors;
Switches;
Reliability;
Resistance;
84.
A Slack-based Approach to Efficiently Deploy Radix 8 Booth Multipliers
机译:
一种基于SLACK的方法,可有效地部署基数8展位倍增器
作者:
Alberto A. Del Barrio
;
Román Hermida
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Multiplier;
Booth;
radix 8;
slack;
modulo scheduling;
85.
Location Detection for Navigation Using IMUs with a Map Through Coarse-Grained Machine Learning
机译:
通过IMU通过粗粒机学习使用IMU的导航位置检测
作者:
J. Jose Gonzalez E.
;
Chen Luo
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
navigation;
assumed significant;
IMU;
86.
ReVAMP: ReRAM based VLIW architecture for in-memory computing
机译:
改造:基于Reram的内存计算的VLIW架构
作者:
Debjyoti Bhattacharjee
;
Rajeswari Devadoss
;
Anupam Chattopadhyay
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Computer architecture;
Programmable logic arrays;
VLIW;
Boolean functions;
Parallel processing;
Zinc;
87.
A tunable magnetic skyrmion neuron cluster for energy efficient artificial neural network
机译:
用于节能人工神经网络的可调谐磁性障碍神经元集群
作者:
Zhezhi He
;
Deliang Fan
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Neurons;
Logic gates;
Sensors;
Current density;
Magnetic films;
Magnetic tunneling;
Electrodes;
88.
ReVAMP: ReRAM based VLIW Architecture for in-Memory comPuting
机译:
改造:基于Reram的内存计算的VLIW架构
作者:
Debjyoti Bhattacharjee
;
Rajeswari Devadoss
;
Anupam Chattopadhyay
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
diverse;
emerging;
architecture;
89.
Endurance management for resistive Logic-In-Memory computing architectures
机译:
用于电阻逻辑内存计算架构的耐力管理
作者:
Saeideh Shirinzadeh
;
Mathias Soeken
;
Pierre-Emmanuel Gaillardon
;
Giovanni De Micheli
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Random access memory;
Memory management;
Boolean functions;
Inverters;
Microprocessors;
Nonvolatile memory;
90.
A Log-aware Synergized scheme for page-level FTL design
机译:
页面级FTL设计的日志感知协同方案
作者:
Chu Li
;
Dan Feng
;
Yu Hua
;
Fang Wang
;
Chuntao Jiang
;
Wei Zhou
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Random access memory;
Reliability;
Radiation detectors;
Programming;
Solids;
Time factors;
Writing;
91.
A fast leakage aware thermal simulator for 3D chips
机译:
用于3D芯片的快速泄漏意识热模拟器
作者:
Hameedah Sultan
;
Smruti R. Sarangi
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Green's function methods;
Mathematical model;
Transforms;
Three-dimensional displays;
Temperature dependence;
Heating systems;
Temperature distribution;
92.
Recovery-aware Proactive TSV Repair for Electromigration in 3D ICs
机译:
恢复感知主动TSV修复3D IC中的电迁移
作者:
Shengcheng Wang
;
Hongyang Zhao
;
Sheldon X.-D. Tan
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
EM;
relative;
conventional;
93.
MeSAP: A fast analytic power model for DRAM memories
机译:
MESAP:DRAM存储器的快速分析功率模型
作者:
Sandeep Poddar
;
Rik Jongerius
;
Leandro Fiorin
;
Giovanni Mariani
;
Gero Dittmann
;
Andreea Anghel
;
Henk Corporaal
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
processors;
applicability;
system architects;
94.
A Scan-Chain Based State Retention Methodology for IoT Processors Operating on Intermittent Energy
机译:
基于扫描链的状态保留方法,用于在间歇性能下运行的IOT处理器
作者:
Pascal Alexander Hager
;
Hamed Fatemi
;
Jose Pineda de Gyvez
;
Luca Benini
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
retain;
outages;
energy;
95.
A static-placement, dynamic-issue framework for CGRA loop accelerator
机译:
CGRA环路加速器的静态位置,动态问题框架
作者:
Zhongyuan Zhao
;
Weiguang Sheng
;
Weifeng He
;
ZhiGang Mao
;
Zhaoshi Li
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Registers;
Routing;
Hardware;
Arrays;
Schedules;
Kernel;
96.
Static netlist verification for IBM high-frequency processors using a tree-grammar
机译:
使用树语语法对IBM高频处理器的静态网册验证
作者:
Christoph J?schke
;
Ulla Herter
;
Claudia Wolkober
;
Carsten Schmitt
;
Christian Zoellin
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Grammar;
Logic gates;
Program processors;
Hardware design languages;
Production;
Runtime;
Built-in self-test;
97.
A scan-chain based state retention methodology for IoT processors operating on intermittent energy
机译:
基于扫描链的状态保留方法,用于在间歇性能下运行的IOT处理器
作者:
Pascal Alexander Hager
;
Hamed Fatemi
;
Jose Pineda de Gyvez
;
Luca Benini
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Nonvolatile memory;
Random access memory;
Microcontrollers;
Ferroelectric films;
Software;
Hardware;
Registers;
98.
A coordinated multi-agent reinforcement learning approach to multi-level cache co-partitioning
机译:
多级缓存协同分区的协调多智能体增强学习方法
作者:
Rahul Jain
;
Preeti Ranjan Panda
;
Sreenivas Subramoney
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Sensitivity;
Resource management;
Throughput;
Learning (artificial intelligence);
Hardware;
Multicore processing;
Computational modeling;
99.
Efficient yield optimization method using a variable K-Means algorithm for analog IC sizing
机译:
一种使用变量K平均算法模拟IC尺寸的高效产量优化方法
作者:
António Canelas
;
Ricardo Martins
;
Ricardo Póvoa
;
Nuno Louren?o
;
Nuno Horta
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
Optimization;
Integrated circuit modeling;
Optical fibers;
Clustering algorithms;
Monte Carlo methods;
Yield estimation;
100.
eBSP: Managing NoC traffic for BSP workloads on the 16-core Adapteva Epiphany-III Processor
机译:
EBSP:在16核心Adapeva EPIphany-III处理器上管理BSP工作负载的NOC流量
作者:
Siddhartha
;
Nachiket Kapre
会议名称:
《Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition》
|
2017年
关键词:
improvement;
energy efficiency;
communication;
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