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European Design and Test Conference, 1996. ED&TC 96. Proceedings
European Design and Test Conference, 1996. ED&TC 96. Proceedings
召开年:
1996
召开地:
Paris
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Optimal code placement of embedded software for instruction caches
机译:
用于指令缓存的嵌入式软件的最佳代码放置
作者:
Tomiyama H.
;
Yasuura H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
2.
A graph based processor model for retargetable code generation
机译:
基于图形的处理器模型用于可重定向代码生成
作者:
Van Praet J.
;
Lanneer D.
;
Goossens G.
;
Geurts W.
;
De Man H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
3.
Operation serializability for embedded systems
机译:
嵌入式系统的操作可串行化
作者:
Gupta R.K.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
4.
Decentralized BIST for 1149.1 and 1149.5 based interconnects
机译:
用于基于1149.1和1149.5的互连的分散式BIST
作者:
Chauchin Su
;
Shyh-Jye Jou
;
Yuan-Tzu Ting
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
5.
Test structures on MCM active substrate: is it worthwhile?
机译:
在MCM有源基板上测试结构:值得吗?
作者:
Oliver J.
;
Kerkhoff H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
6.
Area and timing estimation for lookup table based FPGAs
机译:
基于查找表的FPGA的面积和时序估计
作者:
Xu M.
;
Kurdahi F.J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
7.
Detailed-routability of FPGAs with extremal switch-block structures
机译:
具有极致开关模块结构的FPGA的详细布线能力
作者:
Takashima Y.
;
Takahashi A.
;
Kajitani Y.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
8.
Designing self-testable multi-chip modules
机译:
设计可自我测试的多芯片模块
作者:
Zorian Y.
;
Bederr H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
9.
Asynchronous SRT dividers: the real cost
机译:
异步SRT分频器:实际成本
作者:
Boutamine H.
;
Guyot A.
;
Elhassan B.
;
Renaudin M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
10.
Error detection in fault secure controllers using state encoding
机译:
使用状态编码的故障安全控制器中的错误检测
作者:
Voskampl E.
;
Rosenstiel W.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
11.
A conceptual design environment for micromechanisms
机译:
微观机制的概念设计环境
作者:
Kiriyama T.
;
Nakajima N.
;
Yoshimura S.
;
Burgess S.
;
Moore D.
;
Shibaike N.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
12.
Hardware/software partitioning using integer programming
机译:
使用整数编程的硬件/软件分区
作者:
Niemann R.
;
Marwedel P.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
13.
Partial scan high-level synthesis
机译:
部分扫描高级综合
作者:
Fernandez V.
;
Sanchez P.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
14.
A fast optimal robust path delay fault testable adder
机译:
快速最佳的鲁棒路径延迟故障可测试加法器
作者:
Becker B.
;
Drechsler R.
;
Krieger R.
;
Reddy S.M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
15.
A memory-based architecture for MPEG2 System protocol LSIs
机译:
MPEG2系统协议LSI的基于存储器的架构
作者:
Inamori M.
;
Naganuma J.
;
Wakabayashi H.
;
Endo M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
16.
Applied design and analysis of microsystems
机译:
微型系统的应用设计与分析
作者:
Karam J.M.
;
Courtois B.
;
Poppe A.
;
Hofmann K.
;
Rencz M.
;
Glesner M.
;
Szekely V.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
17.
Approaches to on-chip testing of mixed signal macros in ASICs
机译:
ASIC中混合信号宏的片上测试方法
作者:
Cobley R.A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
18.
Fast computation of substrate resistances in large circuits
机译:
快速计算大型电路中的衬底电阻
作者:
van Genderen A.J.
;
van der Meijs N.P.
;
Smedes T.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
19.
ETS-A: a new electrothermal simulator for CMOS VLSI circuits
机译:
ETS-A:CMOS VLSI电路的新型电热模拟器
作者:
Yi-Kan Cheng
;
Rosenbaum E.
;
Sung-Mo Kang
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
20.
Iddq testing for high performance CMOS-the next ten years
机译:
未来十年针对高性能CMOS的Iddq测试
作者:
Williams T.W.
;
Kapur R.
;
Mercer M.R.
;
Dennard R.H.
;
Maly W.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
21.
Design for testability of gated-clock FSMs
机译:
门控时钟FSM的可测试性设计
作者:
Favalli M.
;
Benini L.
;
De Micheli G.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
22.
K*BMDs: a new data structure for verification
机译:
K * BMD:用于验证的新数据结构
作者:
Drechsler R.
;
Becker B.
;
Ruppertz S.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
23.
An efficient algorithm for real-time symbolic model checking
机译:
实时符号模型检查的高效算法
作者:
Frossl J.
;
Gerlach J.
;
Kropf T.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
24.
System design tools for broadband telecom network applications
机译:
宽带电信网络应用的系统设计工具
作者:
Lin B.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
25.
Deterministic test pattern reproduction by a counter
机译:
计数器确定性的测试图案再现
作者:
Kagaris D.
;
Tragoudas S.
;
Majumdar A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
26.
Multiplicative window generators of pseudo-random test vectors
机译:
伪随机测试向量的乘法窗口生成器
作者:
Rajski J.
;
Tyszer J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
27.
High-level synthesis of gracefully degradable ASICs
机译:
适度可降解ASIC的高级综合
作者:
Wah Chan
;
Orailoglu A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
28.
High-level synthesis of recoverable microarchitectures
机译:
可恢复微体系结构的高级综合
作者:
Ohm S.Y.
;
Blough D.M.
;
Kurdahi F.J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
29.
Reducing address bus transition for low power memory mapping
机译:
减少地址总线转换以实现低功耗存储器映射
作者:
Panda P.R.
;
Dutt N.D.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
30.
DFSIM: a gate-delay fault simulator for sequential circuits
机译:
DFSIM:时序电路的门延迟故障模拟器
作者:
Cavallera P.
;
Girard P.
;
Landrault C.
;
Pravossoudovitch S.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
31.
Surprises in sequential redundancy identification
机译:
顺序冗余识别令人惊讶
作者:
Iyer M.A.
;
Long D.E.
;
Abramovici M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
32.
Structural methods for the synthesis of speed-independent circuits
机译:
速度无关电路综合的结构方法
作者:
Pastor E.
;
Cortadella J.
;
Kondratyev A.
;
Roig O.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
33.
Alternating strategies for sequential circuit ATPG
机译:
时序电路ATPG的交替策略
作者:
Hsiao M.S.
;
Rudnick E.M.
;
Patel J.H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
34.
Advanced techniques for GA-based sequential ATPGs
机译:
基于GA的顺序式ATPG的先进技术
作者:
Corno F.
;
Prinetto P.
;
Rebaudengo M.
;
Sonza Reorda M.
;
Mosca R.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
35.
A novel analog module generator environment
机译:
新型模拟模块生成器环境
作者:
Wolf M.
;
Kleine U.
;
Hosticka B.J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
36.
XPRESS: a cell layout generator with integrated transistor folding
机译:
XPRESS:具有集成晶体管折叠功能的单元布局生成器
作者:
Gupta A.
;
Siang-Chun The
;
Hayes J.P.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
37.
Perturb and simplify: optimizing circuits with external don't cares
机译:
扰动和简化:无需外部即可优化电路
作者:
Shih-Chieh Chang
;
Marek-Sadowska M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
38.
Rapid gate matching with don't cares
机译:
无需关心即可快速进行门匹配
作者:
Trullemans A.-M.
;
Zhang Q.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
39.
Towards a uniform notation for memory tests
机译:
迈向统一的记忆测试法
作者:
van de Goor Ad.J.
;
Offerman A.
;
Schanstra I.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
40.
RAM testing algorithms for detection multiple linked faults
机译:
用于检测多个链接故障的RAM测试算法
作者:
Mikitjuk V.G.
;
Yarmolik V.N.
;
van de Goor A.J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
41.
High level CAD melds microsystems with foundries
机译:
高等级CAD与铸造厂融合微系统
作者:
Karam J.M.
;
Courtois B.
;
Bauge M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
42.
Power optimization of delay constrained CMOS bus drivers
机译:
延迟受限的CMOS总线驱动器的功率优化
作者:
Caufape S.
;
Figueras J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
43.
Gate sizing: a general purpose optimization approach
机译:
门大小调整:通用优化方法
作者:
Coudert O.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
44.
Optimizing CMOS circuits for low power using transistor reordering
机译:
使用晶体管重新排序优化CMOS电路以实现低功耗
作者:
Musoll E.
;
Cortadella J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
45.
Design and selection of buffers for minimum power-delay product
机译:
设计和选择最小功耗产品的缓冲器
作者:
Turgis S.
;
Azemard N.
;
Auvergne D.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
46.
An algorithm for zero-skew clock tree routing with buffer insertion
机译:
具有缓冲器插入的零偏时钟树路由算法
作者:
Chen Y.P.
;
Wong D.F.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
47.
A balanced-mesh clock routing technique using circuit partitioning
机译:
使用电路划分的平衡网格时钟路由技术
作者:
Sato H.
;
Onozawa A.
;
Matsuda H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
48.
Model refinement for hardware-software codesign
机译:
硬件-软件代码签名的模型优化
作者:
Jie Gong
;
Gajski D.D.
;
Bakshi S.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
49.
Thread-based software synthesis for embedded system design
机译:
用于嵌入式系统设计的基于线程的软件综合
作者:
Youngsoo Shin
;
Kiyoung Choi
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
50.
High rate soft output Viterbi decoder
机译:
高速率软输出维特比解码器
作者:
Luthi E.
;
Casseau E.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
51.
Constructive analysis of cyclic circuits
机译:
循环电路的结构分析
作者:
Shiple T.R.
;
Berry G.
;
Touati H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
52.
Algebraic support for transformational hardware allocation
机译:
转换硬件分配的代数支持
作者:
Mendias
;
J.M.
;
Hermida
;
R.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
53.
An automated design environment for micromechanical sensors
机译:
微型机械传感器的自动化设计环境
作者:
Murthi
;
A.
;
Rocaries
;
F.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
54.
An efficient method for the self-consistent electro-thermal simulation and its integration into a CAD framework
机译:
一种自洽电热模拟的有效方法,并将其集成到CAD框架中
作者:
Szekely
;
V.
;
Poppe
;
A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
55.
Applying behavioural level test generation to high-level design validation
机译:
将行为级别的测试生成应用于高级设计验证
作者:
Gulbins
;
M.
;
Straube
;
B.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
56.
Design challenges of high speed ATM communication ASICs
机译:
高速ATM通信ASIC的设计挑战
作者:
Conesa
;
J.L.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
57.
Design kit for microsystems design for an enhanced CMOS process
机译:
用于增强CMOS工艺的微系统设计的设计套件
作者:
Carrabina
;
J.
;
Hebrard
;
L.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
58.
Design of test modules for the analysis of MCM interconnects
机译:
用于MCM互连分析的测试模块设计
作者:
Truzzi
;
C.
;
Beyne
;
E.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
59.
Economics modelling and optimisation of MCM test strategies
机译:
MCM测试策略的经济学建模和优化
作者:
Dislis
;
C.
;
Jalowiecki
;
I.P.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
60.
Exploiting partitioned transition relations for efficient symbolic model checking in CTL
机译:
利用分区转换关系在CTL中进行有效的符号模型检查
作者:
Casar
;
A.
;
Brezocnik
;
Z.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
61.
Formal specification of a reactive system: an exercise in VHDL, LOTOS and UNITY
机译:
反应系统的正式规范:VHDL,LOTOS和UNITY中的练习
作者:
Pierre
;
L.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
62.
FPGA synthesis for minimum area, delay and power
机译:
FPGA合成,可实现最小的面积,延迟和功耗
作者:
Pan
;
K.-R.R.
;
Pedram
;
M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
63.
Future of Testing: Reintegration of Design, Testing and Manufacturing
机译:
测试的未来:设计,测试和制造的重新整合
作者:
Maly
;
W.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
64.
Generalized Recognition Of Gates: a VLSI abstraction tool
机译:
通用门识别:VLSI抽象工具
作者:
Guignet
;
J.B.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
65.
Hardware check of arithmetic devices with abridged execution of operations
机译:
精简运算的算术设备的硬件检查
作者:
Drozd
;
A.
;
Lobachov
;
M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
66.
Methods and tools for the design of electrostatic micromotors
机译:
设计静电微电机的方法和工具
作者:
Johansson
;
T.B.
;
Hameyer
;
K.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
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1996年
67.
A combined pairing and chaining algorithm for CMOS layout generation
机译:
CMOS布局生成的组合配对和链接算法
作者:
Velasco
;
A.J.
;
Marin
;
X.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
68.
A hardware/software codesign case study: design of a robot arm controller
机译:
硬件/软件代码签名案例研究:机器人手臂控制器的设计
作者:
Abid
;
M.
;
Changuel
;
A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
69.
A spectral method for Boolean function matching
机译:
布尔函数匹配的频谱方法
作者:
Miller
;
D.M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
70.
A system for modelling and proving circuits
机译:
用于电路建模和验证的系统
作者:
Allemand
;
M.
;
Coupet-Grimal
;
S.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
71.
A technique for avoiding isomorphic netlists in architectural synthesis
机译:
在建筑综合中避免同构网表的技术
作者:
Marwedel
;
P.
;
Bashford
;
S.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
72.
Addressing the Challenges of System-On-A-Chip Design
机译:
应对片上系统设计的挑战
作者:
House
;
G.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
73.
Proceedings of European Design and Test Conference
机译:
欧洲设计与测试会议论文集
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
74.
Realistic fault extraction for boards
机译:
实际的电路板故障提取
作者:
Sousa
;
J.T.
;
Shen
;
T.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
75.
Self-checking and fault tolerant approaches can help BIST fault coverage: a case study
机译:
自我检查和容错方法可以帮助BIST故障覆盖:一个案例研究
作者:
Corno
;
F.
;
Prinetto
;
P.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
76.
Silicon Technology: Risks, Opportunities, and Challenges
机译:
硅技术:风险,机遇与挑战
作者:
Jacobs
;
H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
77.
System fault diagnosis based on a fuzzy qualitative approach
机译:
基于模糊定性方法的系统故障诊断
作者:
Touati
;
M.H.
;
Mohamed
;
F.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
78.
The use of microelectronics for future telecom and multimedia systems
机译:
将微电子技术用于未来的电信和多媒体系统
作者:
Wenin
;
J.
;
Van Wauwe
;
G.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
79.
VLSI design of a high speed soft decision Viterbi detector
机译:
高速软判决维特比检测器的VLSI设计
作者:
Conway
;
T.
;
Nelson
;
J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
80.
I/sub DDQ/: you heard the hype, but what's really coming?
机译:
I / sub DDQ /:您听到了炒作,但真正发生了什么?
作者:
Baker
;
K.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
81.
An approach for a dynamic generation/validation system for the functional simulation considering timing constraints
机译:
考虑时序约束的功能仿真动态生成/验证系统的方法
作者:
Heinkel
;
U.
;
Glauert
;
W.H.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
82.
Analysis of ISSQ/IDDQ testing implementation and circuit partitioning in CMOS cell-based design
机译:
基于CMOS单元设计的ISSQ / IDDQ测试实现和电路划分分析
作者:
Rullan
;
M.
;
Ferrer
;
C.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
83.
Automatic test generation for maximal diagnosis of linear analog circuits
机译:
自动生成测试以最大程度地诊断线性模拟电路
作者:
Mir
;
S.
;
Lubaszewski
;
M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
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1996年
84.
Built-in self test architectures for multistage interconnection networks
机译:
内置的自测架构,用于多级互连网络
作者:
Bernard
;
E.
;
Simon
;
S.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
85.
Evaluation of i/sub DD//v/sub OUT/ cross-correlation for mixed current-voltage testing of analogue and mixed-signal circuits
机译:
i / sub DD // v / sub OUT /互相关的评估,用于模拟和混合信号电路的混合电流-电压测试
作者:
Machado da Silva
;
J.
;
Silva Matos
;
J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
86.
Exploit analog IFA to improve specification based tests of SC circuits
机译:
利用模拟IFA改善SC电路的基于规范的测试
作者:
Atzema
;
B.
;
Zwemstra
;
T.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
87.
FLAMES: A fuzzy logic ATMS and model-based expert system for analog diagnosis
机译:
FLAMES:用于模拟诊断的模糊逻辑ATMS和基于模型的专家系统
作者:
Mohamed
;
F.
;
Marzouki
;
M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
88.
Including higher-order moments of RC interconnections in layout-to-circuit extraction
机译:
在布局到电路提取中包括RC互连的高阶矩
作者:
Elias
;
P.J.H.
;
van der Meijs
;
N.P.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
89.
A timing-constrained incremental routing algorithm for symmetrical FPGAs
机译:
对称FPGA的时序受限的增量路由算法
作者:
Raman
;
S.
;
Liu
;
C.L.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
90.
PALACE: A parallel and hierarchical layout analyzer and circuit extractor
机译:
PALACE:并行和分层布局分析器和电路提取器
作者:
Scherber
;
F.
;
Barke
;
E.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
91.
Relay propagation scheme for testing of MCMs on large area substrates
机译:
用于在大面积基板上测试MCM的中继传播方案
作者:
Sasidhar
;
K.
;
Chatterjee
;
A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
92.
Resynthesis of combinational circuits for path count reduction and for path delay fault testability
机译:
重新合成组合电路,以减少路径计数并提高路径延迟故障的可测试性
作者:
Krstic
;
A.
;
Kwang-Ting Cheng
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
93.
Simulated annealing algorithm with multi-molecule: an approach to analog synthesis
机译:
多分子模拟退火算法:一种模拟合成方法
作者:
Yang
;
H.Z.
;
Fan
;
C.Z.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
94.
Step by step from specification to realization of an electrochemical microsystem
机译:
从规范到逐步实现电化学微系统
作者:
Suss
;
W.
;
Lindemann
;
K.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
95.
SUZANA: a 3D CAD tool for anisotropically etched silicon microstructures
机译:
SUZANA:用于各向异性刻蚀硅微结构的3D CAD工具
作者:
Buttgenbach
;
S.
;
Than
;
O.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
96.
Timing driven placement reconfiguration for fault tolerance and yield enhancement in FPGAs
机译:
时序驱动的布局重新配置,以提高FPGA的容错能力和良率
作者:
Mathur
;
A.
;
Liu
;
C.L.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
97.
VLSI architecture for motion estimation using the block-matching algorithm
机译:
使用块匹配算法进行运动估计的VLSI架构
作者:
Sanz
;
C.
;
Garrido
;
M.J.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
98.
An automatic hardware-software partitioner based on the possibilistic programming
机译:
基于可能编程的自动软硬件分区器
作者:
Karkowski
;
I.
;
Otten
;
R.H.J.M.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
99.
An efficient algorithm for signal flow determination in digital CMOS VLSI
机译:
数字CMOS VLSI中确定信号流的有效算法
作者:
Baba-ali
;
A.R.
;
Farah
;
A.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
100.
An implicit algorithm for support minimization during functional decomposition
机译:
一种在功能分解期间最小化支持的隐式算法
作者:
Legl
;
C.
;
Wurth
;
B.
会议名称:
《European Design and Test Conference, 1996. EDTC 96. Proceedings》
|
1996年
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