掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
其他
>
Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III
Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
High-performance, multi-channel, fiber-based absolute distance measuring interferometer system
机译:
高性能,多通道,基于光纤的绝对距离测量干涉仪系统
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
2.
Detecting Molecular Stress in metals
机译:
检测金属中的分子胁迫
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
polarization;
refraction;
ellipsometry;
hardness;
molecular stress;
SAE 1045;
3.
Non-linear distortions caused by AFM-tip geometry and limitations of reconstruction on discrete data
机译:
AFM-TIP几何形状引起的非线性扭曲和离散数据的重建限制
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
AFM;
tactile measurement;
non-linear distortion;
phase-modulation;
frequency-modulation;
inverse problem;
reconstruction;
4.
Nonstandard refraction of light from one-dimensional dielectric quasi- periodic surfaces
机译:
非维介质拟周期表面的光的非标准折射
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
rough surface scattering;
refraction;
designer surface;
meta-materials;
5.
Surface-sensitive strain analysis of Si/SiGe line structures by Raman and UV-Raman spectroscopy
机译:
拉曼和UV拉曼光谱法的Si / SiGe线结构表面敏感应变分析
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
silicon;
strain;
raman spectroscopy;
6.
Improved diffraction-based overlay metrology by use of two dimensional array target
机译:
通过使用二维阵列目标改善基于衍射的覆盖计量
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
scatterometry;
diffraction;
periodic structure;
7.
Interferometric imaging ellipsometry: fundamental study
机译:
干涉成像椭圆测定法:基础研究
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
ellipsometry;
imaging ellipsometry;
spectroscopic measurement;
8.
Spectral effects of AFM tip geometry
机译:
AFM尖端几何的光谱效应
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
AFM;
tip geometry;
distortion;
spectral effects;
9.
Towards accurate and reproducible metrology of manufactured ZnO nanoparticles
机译:
朝向制造的ZnO纳米粒子的准确性和可重复的计量
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
ZnO;
nanoparticles;
nanometrology;
dynamic light scattering;
transmission electron microscopy;
10.
Measurement Traceability and Quality Assurance in a Nanomanufacturing Environment
机译:
纳米制造环境中的测量可追溯性和质量保证
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
traceability;
metrological timelines;
measurement assurance;
reference measurement system;
11.
Photo-reflectance characterization of USJ activation in millisecond annealing
机译:
毫秒退火中USJ激活的光反射率特征
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
photoreflectance;
ultra-shallow junction;
semiconductor;
spectroscopy;
leakage current;
pre-amorphization anneal;
laser anneal;
flash anneal;
dopant activation;
12.
Methods for TEM analysis of NIST's single-walled carbon nanotube Standard Reference Material
机译:
NIST的单壁碳纳米管标准参考材料的TEM分析方法
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
reference material;
single-walled carbon nanotubes;
TEM;
13.
Effect of the measurement wavelength on a multi-dielectric mirror wavefront
机译:
测量波长对多介电镜波前的影响
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
thin films;
multi-dielectric mirror;
fizeau interferometer;
phase measurement;
14.
Front-side Illuminated CMOS Spectral Pixel Response and Modulation Transfer Function Characterization: Impact of Pixel Layout Details and Pixel Depletion Volume
机译:
前侧照明CMOS光谱像素响应和调制传递函数表征:像素布局细节和像素耗尽量的影响
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
precision spectral spot scanning;
CMOS imager;
modulation transfer function;
15.
Role of supercontinuum in the fragmentation of colloidal Gold nanoparticles in solution
机译:
超连续体在溶液中胶体金纳米粒子碎裂中的作用
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
fragmentation;
supercontinuum;
gold nanoparticles;
optical extinction;
IR;
TEM;
SAXS;
16.
Improvements to Spectral Spot-Scanning Technique for Accurate and Efficient Data Acquisition
机译:
用于准确高效数据采集的频谱点扫描技术的改进
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
precision spectral spot scanning;
small pixels;
modulation transfer function;
CMOS imager;
confocal microscopy;
non-uniform sampling effects;
responsivity mapping;
17.
Experimental methods for measurement of the modulation transfer function (MTF) for time-delay-and-integrate (TDI) charge coupled device (CCD) image sensors
机译:
用于测量调制传递函数(MTF)的试验方法,用于时延和集成(TDI)电荷耦合器件(CCD)图像传感器
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
18.
A Decade of Commitment from the NIST Manufacturing Engineering Laboratory to Nanomanufacturing and Nanometrology
机译:
纳米制造工程实验室到纳米制造和纳米术学的十年。
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
nanomanufacturing;
nanometrology;
standards;
NIST;
NNI;
interagency working group;
IWG;
19.
An improved phase quadrature correction method by fitting the pesudo quadrature phase difference
机译:
一种改进的相位正交校正方法来拟合Pesudo正交相位差
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
20.
Independent measurements of force and position in atomic force microscopy
机译:
原子力显微镜中的力和位置的独立测量
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
atomic force microscopy;
scanning probe microscopy;
force spectroscopy;
single molecule;
21.
Sub-Nanometer Resolution for the Inspection of Reflective Surfaces Using White Light
机译:
使用白光检查反射表面的亚纳米分辨率
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
shape;
reflectometry;
white light;
nanometer resolution;
topometry;
freeform;
22.
193 nm Angle-Resolved Scatterfield Microscope for Semiconductor Metrology
机译:
193 nm角度分辨的半导体计量散射场显微镜
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
scatterfield microscopy;
conjugate back focal plane;
angle resolved;
illumination;
23.
Measuring a laser focal spot on a large intensity range - Effect of optical component laser damages on the focal spot
机译:
在大强度范围内测量激光焦点 - 光学元件激光损伤对焦点的影响
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
focal spot;
laser damage;
scattering;
high power laser;
24.
Measurement of thickness of native silicon dioxide with a scanning electron microscope
机译:
用扫描电子显微镜测量天然二氧化硅厚度
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
silicon;
silicon dioxide;
native silicon dioxide;
scanning electron microscopy;
25.
Nanoscale dimensional metrology in Russia
机译:
俄罗斯纳米级尺寸计量
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
nanoscale;
nanometrology;
calibration;
scanning electron microscopy;
atomic force microscopy;
traceability;
standards;
transfer standard;
26.
Silica Nanoparticle Dispersion Size Measurement Using Dielectrophoresis on a Microfabricated Electrode Array
机译:
二氧化硅纳米粒子分散尺寸测量使用微耦合电极阵列上的电泳
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
nanoparticle;
density grating;
electrode array;
refractive index grating;
diffusion coefficient;
particle size characterization;
realtime process monitoring;
27.
Imaging comparison of reflection and transmission grating systems
机译:
反射和传输光栅系统的成像比较
会议名称:
《Conference on instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing III》
|
2009年
关键词:
bi-grating imaging effect;
transmission grating;
reflection grating;
image information;
意见反馈
回到顶部
回到首页