掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
Radiation Effects Data Workshop, 2004
Radiation Effects Data Workshop, 2004
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
A new neutron facility for single-event effect testing
机译:
用于单事件效应测试的新中子设施
作者:
Prokofiev A.V.
;
Andersson L.-O.
;
Bergmark T.
;
Bystrom O.
;
Calen H.
;
Einarsson L.
;
Ekstrom C.
;
Fransson J.
;
Gajewski K.
;
Haag N.
;
Hartman T.
;
Hellbeck E.
;
Johansen T.
;
Jonsson O.
;
Lundstrom B.
;
Pettersson L.
;
Reistad D.
;
Renberg P.-U.
;
Wessman D.
;
Ziemann V.
;
Blomgren J.
;
Pomp S.
;
Osterlund A.
;
Tippawan U.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
neutron sources;
neutron beams;
neutron effects;
cyclotrons;
lithium;
beam handling equipment;
neutron facility;
single-event effect testing;
monoenergetic neutron beams;
cyclotron;
flexible lithium target;
beam line;
neutron intensity;
neutron beam properties;
beam geometrical shape;
beam energy;
neutron-induced SEE;
SEE testing;
Li;
2.
SEE and TID results for a commercially fabricated radiation hardened field programmable gate array
机译:
商业化制造的辐射硬化现场可编程门阵列的SEE和TID结果
作者:
Hafer C.
;
Lake R.
;
Jordan A.
;
Farris T.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
field programmable gate arrays;
radiation hardening (electronics);
ion beam effects;
integrated circuit testing;
FPGA;
ion beam;
SEE;
TID;
radiation hardened FPGA;
field programmable gate array;
aerospace IC;
single event upset;
single event latchup;
total ionizing dose;
3.
TID and SEE testing results of Altera Cyclone field programmable gate array
机译:
Altera Cyclone现场可编程门阵列的TID和SEE测试结果
作者:
Clark S.L.
;
Avery K.
;
Parker R.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
field programmable gate arrays;
radiation effects;
integrated circuit testing;
integrated circuit reliability;
TID;
SEE testing;
field programmable gate array;
total ionizing dose;
single event effects;
FPGA;
performance degradation;
low LET single event latchup;
SEU;
SEL;
1 Mrad;
4.
Current total ionizing dose results and displacement damage results for candidate spacecraft electronics for NASA
机译:
NASA候选航天器电子设备的当前总电离剂量结果和位移损坏结果
作者:
Cochran D.J.
;
Buchner S.P.
;
Irwin T.L.
;
Kniffin S.D.
;
Ladbury R.L.
;
Palor C.D.
;
LaBel K.A.
;
Marshall C.J.
;
Reed R.A.
;
Sanders A.B.
;
Hawkins D.K.
;
Flanigan R.J.
;
Cox S.R.
;
OBryan M.V.
;
Carts M.A.
;
Poivey C.F.
;
Howard J.W. Jr.
;
Kim H.S.
;
Forney J.D.
;
Marshall P.W.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
space vehicle electronics;
proton effects;
integrated circuit testing;
semiconductor device testing;
TID;
total ionizing dose;
displacement damage;
spacecraft electronics radiation vulnerability;
optoelectronics;
digital IC;
analog IC;
linear bipolar devices;
hybrid devices;
analog-to-digital converters;
ADC;
digital-to-analog converters;
DAC;
proton damage testing;
5.
Heavy ion SEE testing of Xilinx one-time programmable configuration PROMs
机译:
Xilinx一次性可编程配置PROM的重离子SEE测试
作者:
George J.
;
Swift G.
;
Guertin S.
;
Carmichael C.
;
Rezgui S.
;
Koga R.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
PROM;
ion beam effects;
integrated circuit testing;
integrated circuit reliability;
heavy ion beams;
heavy ion SEE testing;
one-time programmable configuration PROM;
single event effects;
programmable read-only-memories;
failure modes;
address upsets;
end-of-part failures;
low-power standby mode;
power cycle reset;
6.
SEE sensitivities of selected advanced flash and first-in-first-out memories
机译:
所选高级闪存和先进先出存储器的SEE灵敏度
作者:
Koga R.
;
Tran V.
;
George J.
;
Crawford K.
;
Crain S.
;
Zakrzewski M.
;
Yu P.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
flash memories;
radiation effects;
transient response;
integrated memory circuits;
integrated circuit testing;
SEE sensitivities;
flash memories;
first-in-first-out memories;
single event effects;
transient upsets;
high LET ions;
semi-permanent upsets;
FIFO memories;
7.
Terrestrial solar cells in space radiation tolerance
机译:
太空中的太阳能电池辐射容忍度
作者:
Sumita T.
;
Imaizumi M.
;
Kawakita S.
;
Matsuda S.
;
Kuwajima S.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
solar cells;
space vehicle electronics;
radiation effects;
terrestrial solar cells;
space solar cells;
radiation tolerance;
CIGS cells;
polycrystalline silicon cells;
severe radiation environment degradation;
geostationary transfer orbit;
end-of-life prediction methodologies;
flight data;
ground irradiation tests;
relative damage coefficients;
displacement damage dose;
Si;
8.
Effects of gamma-ray irradiation on quantum-well semiconductor lasers
机译:
伽马射线辐照对量子阱半导体激光器的影响
作者:
Sporea D.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
quantum well lasers;
gamma-ray effects;
gamma-ray irradiation effects;
quantum-well semiconductor lasers;
laser diodes;
ionizing radiation environments;
visible range emitting diodes;
diode degradation;
total irradiation dose;
optical characteristics;
electrical characteristics;
optoelectronic characteristics;
external quantum efficiency;
responsivity;
serial resistance;
threshold current;
5 to 8 mW;
96 Mrad;
9.
Current single event effects results for candidate spacecraft electronics for NASA
机译:
当前NASA候选航天器电子设备的单事件效果结果
作者:
OBryan M.V.
;
Seidleck C.M.
;
Carts M.A.
;
Howard J.W. Jr.
;
Kim H.S.
;
Forney J.D.
;
Label K.A.
;
Marshall C.J.
;
Reed R.A.
;
Sanders A.B.
;
Hawkins D.K.
;
Cox S.R.
;
Buchner S.P.
;
Oldham T.R.
;
Sutton J.
;
Irwin T.L.
;
Rodriguez E.
;
McMorrow D.
;
Kniffin S.D.
;
Ladbury R.L.
;
Walter M.
;
Palor C.
;
Marshall P.W.
;
McCall M.
;
Meyer S.
;
Lintz J.
;
Rodgers J.
;
Mohammed S.
;
Rapchun D.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
space vehicle electronics;
integrated circuit testing;
semiconductor device testing;
proton effects;
ion beam effects;
single event effects;
spacecraft electronics;
electronics radiation vulnerability;
proton induced effects;
heavy ion induced effects;
digital IC;
analog IC;
linear bipolar devices;
hybrid devices;
10.
2004 IEEE Radiation Effects Data Workshop
机译:
2004 IEEE辐射效应数据研讨会
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
11.
Copyright Page
机译:
版权页
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
12.
Introduction
机译:
介绍
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
13.
Breaker Page
机译:
断路器页面
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
14.
Breaker Page
机译:
断路器页面
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
15.
Author index
机译:
作者索引
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
16.
A 16 MeVucleon cocktail for heavy ion testing
机译:
用于重离子测试的16 MeV /核子混合物
作者:
McMahan M.A.
;
Leitner D.
;
Gimpel T.
;
Morel J.
;
Ninemire B.
;
Siero R.
;
Silver C.
;
Thatcher R.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
17.
Effect of passivation on the enhanced low dose rate sensitivity of National LM124 operational amplifiers
机译:
钝化对National LM124运算放大器增强的低剂量率灵敏度的影响
作者:
Seiler J.E.
;
Platteter D.G.
;
Dunham G.W.
;
Pease R.L.
;
Maher M.C.
;
Shaneyfelt M.R.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
18.
Dynamic SDRAM SEFI detection and recovery test results
机译:
动态SDRAM SEFI检测和恢复测试结果
作者:
Guertin S.M.
;
Patterson J.D.
;
Nguyen D.N.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
19.
Megarad total ionizing dose and single event effects test results of a radhard-by-design 0.25 micron ASIC space applications
机译:
radhard设计的0.25微米ASIC的Megarad总电离剂量和单事件效应测试结果太空应用
作者:
Hartwell M.
;
Hafer C.
;
Milliken P.
;
Farris T.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
20.
A radiation-hardened high-precision resolver-to-digital converter (RDC)
机译:
防辐射的高精度旋变数字转换器(RDC)
作者:
Nowlin N.
;
McEndree S.
;
Butcher D.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
21.
IEEE radiation effects data workshop 1992-2004 cumulative index
机译:
IEEE辐射影响数据研讨会1992-2004累积索引
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
22.
Compendia of TID and SEE test results of integrated circuits
机译:
集成电路的TID和SEE测试结果纲要
作者:
Layton P.
;
Williamson G.
;
Gilbert C.
;
Longden L.
;
Patnaude E.
;
Sloan C.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
space vehicle electronics;
integrated circuit testing;
radiation effects;
single event latchup threshold levels;
heavy ions;
space radiation environment;
integrated circuit radiation testing;
single event upset threshold levels;
TID;
SEE;
single event effects;
total ionizing dose;
space products;
radiation effects;
23.
In-flight observations of long-term single event effect (SEE) performance on X-ray Timing Explorer (XTE) solid-state recorders (SSRs) SRAM
机译:
在飞行中观察X射线Timing Explorer(XTE)固态记录器(SSR)上的长期单事件效果(SEE)性能SRAM
作者:
Poivey C.
;
Gee G.
;
LaBel K.A.
;
Barth J.L.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
space vehicle electronics;
SRAM chips;
radiation effects;
solid-state memories;
memory devices;
X-ray source variability measurement;
SRAM;
solar activity;
in-flight SEE observations;
single event effects;
X-ray Timing Explorer;
XTE;
solid-state recorder memories;
SEU rates;
SSR;
single event upset;
SEU in-flight data;
140 Mbit;
40 bit;
24.
Proton irradiation effects on 2Gb flash memory
机译:
质子辐照对2Gb闪存的影响
作者:
Wester W.
;
Nelson C.
;
Marriner J.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
flash memories;
proton effects;
integrated circuit testing;
integrated circuit reliability;
flash memory cells;
proton irradiation effects;
total ionizing dose;
single event effects;
single event upsets;
radiation induced failures;
lot-to-lot radiation robustness variation;
register single isolated bit flips;
2 Gbit;
200 MeV;
83 krad;
20 krad;
50 krad;
25.
Radiation lot acceptance testing (RLAT) at high and low dose rates with neutron pre-dosing microcircuits
机译:
使用中子预加药微电路在高剂量率和低剂量率下的辐射批量验收测试(RLAT)
作者:
Posey B.A.
;
Renfrow S.
;
Davis M.
;
Steinbach R.
;
Morgan D.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
neutron effects;
gamma-ray effects;
integrated circuit testing;
annealing;
enhanced low dose rate sensitivity;
ELDRS;
gamma irradiation;
radiation lot acceptance testing;
RLAT;
low dose testing rate;
high dose testing rate;
neutron pre-dosing;
microcircuits;
neutron flux exposure;
total ionizing dose;
TID exposure;
annealing;
26.
SEE and TID test results of 1 Gb flash memories
机译:
1 Gb闪存的SEE和TID测试结果
作者:
Langley T.E.
;
Murray P.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
ion beam effects;
gamma-ray effects;
flash memories;
integrated circuit testing;
heavy ion testing;
gamma radiation testing;
SEU;
SEE;
TID;
flash memories;
single-event effects;
total ionizing dose testing;
single-event upset;
latchup;
functional interrupt;
1 Gbit;
27.
Angular effects in proton-induced single-event upsets in silicon-on-sapphire and silicon-on-insulator devices
机译:
蓝宝石上的硅和绝缘体上的硅装置中质子引起的单事件不安的角效应
作者:
Kniffin S.D.
;
McCabe J.F.
;
Gardner G.A.
;
Lintz J.
;
Ross C.
;
Golke K.
;
Bums B.
;
Sanders A.B.
;
Reed R.A.
;
LaBel K.A.
;
Marshall P.W.
;
Liu S.T.
;
Kim H.S.
;
Forney J.D.
;
Tabbert C.J.
;
Carts M.A.
;
Swonger J.W.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
integrated circuit design;
integrated circuit testing;
proton effects;
silicon-on-insulator;
radiation hardening (electronics);
radiation hardening by design;
RHBD best practices;
SEU angular effects;
proton-induced single-event upsets;
silicon-on-sapphire;
silicon-on-insulator;
SOS devices;
SOI devices;
proton angle of incidence;
SEU rate;
Si-SiO/sub 2/;
Si-Al/sub 2/O/sub 3/;
28.
Evolution of lowest supply voltage and hysteresis phenomena in irradiated analog CMOS switches
机译:
辐射的模拟CMOS开关中最低电源电压和滞后现象的演变
作者:
Franco F.J.
;
Zong Y.
;
Agapito J.A.
;
Casas-Cubillos J.
;
Rodriguez-Ruiz M.A.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
field effect transistor switches;
CMOS analogue integrated circuits;
hysteresis;
neutron effects;
gamma-ray effects;
neutron fluence;
total gamma dose;
TID tests;
total ionizing dose;
switching threshold voltage shift;
lowest supply voltage phenomena;
hysteresis phenomena;
irradiated analog CMOS switches;
radiation tests;
large hadron collider;
LHC;
device biasing voltage;
TTL logic levels;
29.
Measurements of the energy spectrum of degraded proton beams at NPTC
机译:
在NPTC上测量退化质子束的能谱
作者:
Cascio E.W.
;
Sisterson J.A.
;
Gottschalk B.
;
Sarkar S.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
proton beams;
cyclotrons;
proton effects;
particle spectrometers;
beam handling equipment;
proton sources;
proton spectra;
proton therapy facility;
cyclotron;
radiation testing;
proton beam energy reduction;
degraded beam energy spread;
degraded proton beam energy spectrum;
scintillator;
radiation test beams;
low energy beam spread;
230 MeV;
15 MeV;
NaI;
30.
Radiation testing campaign for a new miniaturised space GPS receiver
机译:
新型微型太空GPS接收机的辐射测试活动
作者:
Underwood C.
;
Unwin M.
;
Sorensen R.H.
;
Frydland A.
;
Jameson P.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
radio receivers;
Global Positioning System;
space vehicle electronics;
gamma-ray effects;
ion beam effects;
gamma radiation;
linear-energy transfer;
GPS receiver radiation testing;
miniaturised space GPS receiver;
radiation susceptibility testing;
Global Positioning System receiver;
small satellite GPS receiver;
COTS;
total ionising dose;
TID;
single-event effect;
SEE;
receiver operational effects;
heavy ion exposure;
chipset;
31.
Single-event effect radiation test results of radiation-hardened IEEE1394 Firewire ASICs space applications
机译:
辐射硬化的IEEE1394 Firewire ASIC的单事件效应辐射测试结果空间应用
作者:
Pritchard B.E.
;
Underwood J.B.
;
Murlin W.D.
;
Coleman A.M.
;
Wolfram K.D.
;
Warner J.B.
;
Hafer C.C.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
space vehicle electronics;
radiation hardening (electronics);
ion beam effects;
IEEE standards;
peripheral interfaces;
application specific integrated circuits;
integrated circuit testing;
radiation-hardened data bus;
high energy ions;
heavy ion radiation testing;
single-event effects;
radiation-hardened IEEE1394 Firewire ASIC;
NPOESS radiation requirements;
space applications;
32.
Technical standard for atmospheric radiation single event effects, (SEE) on avionics electronics
机译:
航空电子设备上的大气辐射单事件效应技术标准(SEE)
作者:
Edwards R.
;
Dyer C.
;
Normand E.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
atmospheric radiation;
avionics;
neutron effects;
IEC standards;
ionizing radiation effects;
secondary neutrons;
radiation-induced single event effects;
atmospheric radiation SEE technical standard;
avionics electronics;
IEC technical standard;
aircraft radiation environment;
electronic component SEE;
system assessment;
single event rate calculation;
compliance;
33.
Total dose effects and SEE screening on MEMS COTS accelerometers
机译:
MEMS COTS加速度计上的总剂量效应和SEE筛选
作者:
Cournar O.
;
Miller F.
;
Buard N.
;
Poirot P.
;
Gaillard R.
;
Marchand L.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
accelerometers;
microsensors;
radiation effects;
micromachining;
MEMS sensor;
total dose effects;
SEE screening;
MEMS COTS accelerometers;
total dose response;
latch-up sensitivity;
SET sensitivity;
microelectromechanical sensors;
surface micromachining;
bulk micromachining;
34.
Beam properties of the new radiation effects research stations at Indiana University Cyclotron Facility
机译:
印第安纳大学回旋加速器设施新辐射效应研究站的光束特性
作者:
von Przewoski B.
;
Rinckel T.
;
Manwaring W.
;
Broxton G.
;
Chipara M.
;
Ellis T.
;
Hall E.R.
;
Kinser A.
;
Foster C.C.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
proton sources;
proton beams;
proton effects;
beam handling equipment;
cyclotrons;
dosimetry;
radiation effects research station;
radiation effects research;
proton beamlines;
momentum selected beams;
proton beam energy spread;
beam transmission;
beam lateral profile;
low energy dosimetry;
cyclotron;
205 MeV;
52 MeV;
35.
Candidate spacecraft electronics subjected to ELDRS per Mil-Std-883/method 1019.6 dose rate condition D, /spl les/10 mrad/sec
机译:
符合Mil-Std-883 /方法1019.6剂量率条件D的ELDRS候选航天器电子设备,/ spl les / 10 mrad / sec
作者:
Meshel D.
;
Love D.P.
;
Peterson C.
;
Mil K.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
space vehicle electronics;
radiation effects;
bipolar analogue integrated circuits;
integrated circuit testing;
military standards;
enhanced low dose rate sensitivity;
ELDRS;
spacecraft electronics;
Mil-Std-883 test method 1019.6;
dose rate condition D;
linear bipolar microcircuits;
biased exposures;
unbiased exposures;
36.
Dynamic single event upset characterization of the Virtex-II and Spartan-3 SRAM field programmable gate arrays using proton irradiation
机译:
使用质子辐照对Virtex-II和Spartan-3 SRAM现场可编程门阵列进行动态单事件翻转表征
作者:
Hiemstra D.M.
;
Chayab F.
;
Szajek L.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
field programmable gate arrays;
proton effects;
space vehicle electronics;
integrated circuit testing;
integrated circuit reliability;
SEE;
proton irradiation;
dynamic single event upset characterization;
SRAM FPGA;
field programmable gate arrays;
proton induced SEU cross-sections;
upset rates;
space radiation environment;
37.
Test results of total ionizing dose conducted at the Jet Propulsion Laboratory bipolar and CMOS ICs
机译:
在喷气推进实验室进行的总电离剂量测试结果双极和CMOS IC
作者:
Rivas R.M.
;
Johnston A.H.
;
Miyahira T.F.
;
Rax B.G.
;
Wiedeman M.D.
会议名称:
《Radiation Effects Data Workshop, 2004》
|
2004年
关键词:
gamma-ray effects;
integrated circuit testing;
bipolar integrated circuits;
CMOS integrated circuits;
enhanced low dose rate sensitivity;
gamma ray tests;
total ionizing dose;
TID testing;
failure levels;
ELDRS effects;
biased conditions;
unbiased conditions;
bipolar IC;
CMOS IC;
high dose level;
low dose level;
HDL;
LDL;
意见反馈
回到顶部
回到首页