摘要：报道了粉末压片制样—X射线荧光光谱法测定土壤样品中的C、N、S、Cl、Br、Hf、Mo、Sn、Sc等三十八种元素的分析方法.C、N的分析采用RX60、RX45专用分析晶体,超粗准直器,在30KV—130mA的激发条件下测量.C、S、Cl易沾污,样品制备好后应放入干燥器中保存以避免空气污染,即使这样,随着放置时间的增长,C的测量强度仍会增加,因此应尽快测量.随着测量次数的增加,S、Cl的测量强度不断增加,C的测量强度先减小然后缓慢增加,样品测量应用新制备的样片,而且只能单次使用.不同类型的样品受影响的程度不一致.即使抽真空时间的长短,对分析结果也有影响.各待测元素的测量时间一旦确定,中途不能再改变.第一次测标准样品或生产样品之前,应加测一个无关紧要的样品,以保证各待测样品预抽真空时间一致,确保分析结果的准确性.C、S标准工作曲线的标准点离散度较大,基体校正和采用积分方式测量,效果均不明显.矿物效应和粒度效应是造成这种现象的主要原因.方法的检出限、精密度和准确度对绝大多数元素而言,可完全满足多目标区域化探分析的要求.
