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行波管用钨铼合金中高含量铼的X-射线荧光光谱测定

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本工作根据行波管用的关键材料-钨铼合金中高含量铼测定的需求,分析了用X-射线荧光(XRF)光谱法测定铼时所存在的基本效应、谱线重叠和背景干扰的影响,从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因.理论和实验结果均表明:直接用ReLα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性.本法具有快速准确的特点,分析结果与化学方法一致,在生产控制中应用效果显著.

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来源
《全国地球化学分析学术报告会与X射线光谱分析研讨会》|2003年|50-53|共4页
会议地点南戴河
作者
包生祥; 王守绪; 范荣奎; 赵登华;
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作者单位

中国地质学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类行波管;金属材料;Ｘ射线荧光分析法;
关键词
钨铼合金; 铼; X射线荧光光谱分析; 行波管; 电子器件;

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