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机译:使用双环计数器为高性能电路确定性地内置测试模式生成
机译:确定性的内置测试图生成,使用扭曲环计数器为高性能电路生成
机译:内置基于自我测试的电路的低功耗测试模式生成
机译:基于对预先计算的测试集进行划分和精简的基于存储的内置扫描电路测试图生成方法
机译:使用双环计数器为高性能电路内置测试图生成
机译:确定性的内置数字电路自检功能。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:使用扭环计数器对高性能电路进行内置自检
机译:顺序电路的动态故障折叠和诊断测试模式生成