机译:异步SoC互连的测试模式生成和部分扫描方法
asynchronous circuits; automatic test pattern generation; integrated circuit design; integrated circuit interconnections; system-on-chip; ATPG; C-element testability; asynchronous interconnect; building block; globally-asynchronous locally-synchronous; interconnec;
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机译:稳健的两相RZ异步SoC互连
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机译:用于VLSI电路的内置自测试的划分和详尽测试模式生成的方法。
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机译:半导体测量技术:测试模式NBs-28和NBs-28a:随机故障互连步骤覆盖和其他结构