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コンビナトリアル手法に適合するⅩ線光電子分光(XPS)装置(PHI Quantera Ⅱ)

机译:兼容组合方法的X射线光电子能谱(XPS)装置(PHI QuanteraⅡ)

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摘要

PHI QuanteraⅡは,上述のように,多試料の同一条件測rn定を実行でき,最小7.5μmの微小領域測定能力,32チャンrnネル検出器による高感度なXPS測定,大型の試料ホルrnダー,自動測定,定量性の考慮,自動解析磯能を有しているrnほか,測定時に利便性の高い自動中和,自動試料搬送・移rn動,自動最適測定位置制御横能も備え,高速分析が可能であrnる.
机译:如上所述,PHI Quantera II可以对多个样品执行相同的条件测量,最小面积测量能力为7.5μm,具有32通道检测器的高灵敏度XPS测量,大型样品架。除了自动测量,考虑定量性和自动分析功能外,它还配备了方便进行测量的自动中和,自动样品转移/转移运动,自动最佳测量位置控制横向能力和高速。可以分析。

著录项

  • 来源
    《真空》 |2011年第11期|p.577-579|共3页
  • 作者单位

    アルバック・ファイ株式会社市場開発部(〒253-8522神奈川県茅ヶ崎市円蔵370),物質材料研究機構(〒305-0047茨城県つくば市千現1-2-1);

    アルバック・ファイ株式会社市場開発部(〒253-8522神奈川県茅ヶ崎市円蔵370);

    アルバック・ファイ株式会社市場開発部(〒253-8522神奈川県茅ヶ崎市円蔵370);

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