多重周回イオン光学系による新しい多重周回質量分析法

摘要

高性能質量分析計への発展が期待される，多重周回イオン光学系を用いた新しい多重周回質量分析法を概説rnする。従来，飛行時間型質量分析計として利用されてきた多重周回イオン光学系の概要を説明し，従来の多重rn周回飛行時間型質量分析法の問題を解決するtime-of-flight（TOF）segmentation methodを紹介する。さらに，rn多重周回イオン光学系の新たな応用として，イオン非破壊検出器との組み合わせによる多重周回質量分析法をrn概説する。イオン非破壊検出器により得られる多重周回信号の質量スペクトルへの変換法として，TOFrnSegmentation methodを利用する方法と，周期的相関関数平均を利用する方法を考案した。これらの新規多重rn周回質量分析法により，高質量分解能・高質量精度・高速分析を実現する新しい質量分析装置の開発が期待さrnれる。