机译:基于时间门控CMOS单光子雪崩二极管的传感器中时间门位置和宽度对信噪比的拉曼光谱检测的影响
Circuits and Systems Research Unit, University of Oulu, P.O. Box 4500, 90014, Finland;
Circuits and Systems Research Unit, University of Oulu, P.O. Box 4500, 90014, Finland;
Circuits and Systems Research Unit, University of Oulu, P.O. Box 4500, 90014, Finland;
Circuits and Systems Research Unit, University of Oulu, P.O. Box 4500, 90014, Finland;
SPAD detector; Raman spectroscopy; Time gating; Single photon counting;
机译:自由运行和时间门控单光子雪崩二极管在130nm CMOS中的后脉冲特性
机译:基于CMOS单光子雪崩二极管线路传感器的时间分辨拉曼光谱仪通过分辨拉曼光谱仪的化学成像
机译:借助时间门控的InGaAs / InP单光子雪崩二极管,可实现高达1700 nm的时间分辨扩散光谱
机译:时间分辨CMOS单光子雪崩二极管阵列的不均匀性对时间门控拉曼光谱的影响
机译:用于荧光寿命成像和微阵列应用的CMOS单光子雪崩二极管阵列
机译:基于时间相关的CMOS单光子雪崩二极管线传感器的距离分辨拉曼雷达
机译:基于时间门控CMOS单光子雪崩二极管的传感器中时间门位置和宽度对信噪比的拉曼光谱检测的影响