机译:由于表面带弯曲效应,GaN金属半导体场效应晶体管中的漏极电流崩溃
Departamento de Ingenieria Electronica, ETSI Telecomunicacion, Universidad Politecnica de Madrid, 28040-Madrid, Spain;
机译:评论“ GaN金属半导体场效应晶体管中的载流子俘获和电流塌陷机制” [Appl。物理来吧84,1970(2004年)]
机译:GaN金属半导体场效应晶体管中的载流子捕获和电流塌陷机制
机译:高温下具有光子欧姆漏极的AIGaN / GaN场效应晶体管的光子发射和电流塌陷抑制
机译:AIGAN / GAN HEMTS在闸门滞后,排水滞后和电流塌陷的缓冲捕获效果分析
机译:处理表面状态的传输拐点和电荷陷阱对AlGaN / GaN HFET漏极电流的影响。
机译:栅极长度与漏极-源极距离之比对AlGaN / AlN / GaN异质结构场效应晶体管中电子迁移率的影响
机译:GaN-AlGan场效应晶体管射频电流塌陷机理