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Tunnelling spectroscopy of AlAs and InSb interfaces in InAs/AlSb heterostructures

机译:InAs / AlSb异质结构中AlAs和InSb界面的隧穿光谱

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摘要

MBE grown InAs/AlSb heterostructures with AlAs- and InSb-type interfaces were investigated by tunnelling spectroscopy using a scanning tunnelling microscope (STM). STM surface topography revealed a different electronic surface morphology of the thin InAs/AlSb heterostructure in the case of AlAs and InSb interfaces. Scanning tunnelling spectroscopy (STS) gives an understanding of the origin of local morphology fluctuations. STS suggests the occurrence of classical and quantum effects influencing the energy-band-structure formation in the case of these thin heterostructures.
机译:通过使用扫描隧道显微镜(STM)的隧道光谱法研究了具有AlAs型和InSb型界面的MBE生长的InAs / AlSb异质结构。 STM表面形貌显示,在AlAs和InSb界面的情况下,薄的InAs / AlSb异质结构具有不同的电子表面形态。扫描隧道光谱(STS)可以了解局部形态波动的起因。 STS表明,在这些薄异质结构的情况下,经典和量子效应的出现会影响能带结构的形成。

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