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Qualcomm's Nowak: 3-D Faces Cost Issues

机译:高通的Nowak:3D面成本问题

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摘要

3-D interconnects face plenty of issues that must be dealt with before the benefits of the approach can be realized, said Matt Nowak, director of advanced technology for Qualcomm Inc. (San Diego), in a plenary speech at the IEEE 3-D IC conference in San Francisco last month.rnNowak said through-silicon via (TSV) development and characterization needs to move to leading-edge CMOS, containing strained transistors, ultralow-k dielectrics, and thin die. Other issues include a lack of standard process flows, unproven yield/reliability, and an unclear supply-chain handoff.rnMobile wireless devices need low-cost solutions that improve power efficiency while enhancing performance in terms of bandwidth/milliwatt. Qualcomm now relies on stacked bare die using wire bond and flip-chip, and Nowak said 3-D TSV technology would enable "new architectural solutions that can only be realized with such high-density tier-to-tier connections."
机译:高通公司(圣地亚哥)高级技术总监马特·诺瓦克(Matt Nowak)在IEEE 3-D全体会议上的讲话中说,3-D互连面临许多必须实现该方法的好处之前必须解决的问题。上个月在旧金山举行的IC会议上。rnNowak表示,贯穿硅通孔(TSV)的开发和表征需要转向领先的CMOS,其中包括应变晶体管,超低k电介质和薄裸片。其他问题还包括缺乏标准的工艺流程,未经证实的良率/可靠性以及不清楚的供应链交接。移动无线设备需要低成本的解决方案,这些解决方案应在提高功率效率的同时提高带宽/毫瓦的性能。高通公司现在依靠采用引线键合和倒装芯片的堆叠裸芯片,而诺瓦克表示,3-D TSV技术将使“新的架构解决方案只能通过这种高密度的层到层连接来实现。”

著录项

  • 来源
    《Semiconductor International》 |2009年第12期|4|共1页
  • 作者

    Phillip Garrou;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-17 23:12:20

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