机译:新型环形静电光谱仪的反向散射电子光谱测定超薄膜的厚度
film thickness determination; toroidal electrostatic spectrometer; thin films; sub nm depth resolution; backscattered electron spectroscopy;
机译:从反射电子的能谱确定纳米结构中超薄表面膜的厚度
机译:具有2n弧度集合的二阶聚焦静电环形电子光谱仪
机译:考虑到分光计的响应功能,重建反向散射电子的能谱
机译:使用神经网络在线确定薄膜的高光谱厚度
机译:银(001)和银(111)上超薄外延铬和氧化铁膜的生长和结构:通过X射线光电子衍射和低能电子衍射完成的综合研究。
机译:MoS2和相关过渡金属二卤化物超薄膜的自旋极化厚度与电子结构的关系
机译:结合光学和声学方法测定厚度 超薄膜极限以下的透明有机层的孔隙率和孔隙率
机译:俄歇电子能谱法测定超薄膜的厚度。