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【24h】

ALIGNMENT METHOD AND ASSOCIATE ALIGNMENT AND LITHOGRAPHIC APPARATUSES

机译:对准方法和关联对准和光刻设备

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摘要

Disclosed is a method of, and associated apparatuses for, performing a position measurement on an alignment mark comprising at least a first periodic structure having a direction of periodicity along a first direction. The method comprises obtaining signal data relating to the position measurement and fitting the signal data to determine a position value. The fitting step uses one of a modulation tit or a background envelope periodic fit.
机译:公开了一种方法和相关的装置,用于对对准标记上的位置测量执行,该对准标记包括至少第一周期性结构沿第一方向具有周期性的方向。该方法包括获取与位置测量有关的信号数据并拟合信号数据以确定位置值。拟合步骤使用调制山脊或背景信封周期性拟合之一。

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    《Research Disclosure 》 |2020年第675期| 990-1003| 共14页
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